[发明专利]一种对位方法

说明书

本发明涉及电子产品测试技术领域，具体公开一种对位方法，其包括如下步骤：步骤1，提供一对位模组，其中所述对位模组包括设置有测试压头的对位搬运平台和移动臂；步骤2，所述移动臂搬运所述面板至所述对位搬运平台上的预设位置；步骤3，将所述面板与所述测试压头结合。测试压头设置于对位搬运平台上，移动臂将面板放置于对位搬运平台上，并通过对位搬运平台使面板与测试压头结合，本发明提供的对位方法完成面板与测试压头的自动对位和结合，提高了面板与测试压头结合的自动化程度和工作效率，净化了面板生产环境。

技术领域

本发明涉及电子产品测试技术领域，尤其涉及一种对位方法。

背景技术

面板，如液晶面板，在出厂前需要进行老化测试，以确定产品为合格品，在面板老化测试前需要将面板与测试压头结合，以使面板能够被点亮进行测试。

现有技术中，往往采用人工将面板与测试压头结合，由于面板的整个生产过程需要在清洁度较高的环境中进行，且需要较高的结合效率，以满足为其他设备供料的需求，但采用人工将面板与测试压头结合无法满足上述要求。

有鉴于上述的缺陷，创设对位方法，使其更具有产业上的利用价值。

发明内容

本发明的目的在于提供一种对位方法，以提高生产效率，优化生产环境。

为达此目的，本发明采用以下技术方案：

一种对位方法，包括如下步骤：

步骤1，提供一对位模组，其中所述对位模组包括设置有测试压头的对位搬运平台和移动臂；

步骤2，所述移动臂搬运面板至所述对位搬运平台上的预设位置；

步骤3，将所述面板与所述测试压头结合。

作为优选，所述步骤3之前还包括步骤31：检测设置于所述对位搬运平台上的所述面板的位置，并判断所述测试压头与所述面板是否对位成功。

作为优选，若所述测试压头与所述面板对位成功，则进行步骤3；

若所述测试压头与所述面板未对位成功，则调节所述面板的位置，并重复步骤31。

作为优选，所述步骤2之前还包括步骤22：获取所述预设位置的位置信息。

作为优选，所述对位模组还包括下压组件，所述对位搬运平台包括压块组件，所述步骤2之前还包括步骤21：所述下压组件下压所述压块组件，使得所述测试压头向上运动，给所述面板让位。

作为优选，所述步骤3包括：所述下压组件离开所述压块组件，使所述测试压头下压，使得所述测试压头抵接所述面板。

作为优选，所述步骤2中所述移动臂搬运所述面板至所述对位搬运平台上的预设位置包括：

步骤23：所述移动臂吸附需要与所述测试压头结合的所述面板；

步骤24：所述移动臂将吸附的所述面板放置到所述对位模组上。

作为优选，步骤23与步骤24之间还包括步骤：获取所述面板与所述预设位置的相对位置，并根据所述相对位置对所述面板进行位置调整。

作为优选，所述步骤3后还包括步骤5：对位搬运平台水平运动，将完成结合的所述测试压头与所述面板运至下一工序。

作为优选，所述对位搬运平台上能够依次设置多组所述测试压头和所述面板；所述步骤3后还包括步骤4：

所述对位搬运平台水平运动，所述移动臂搬运另一所述面板至所述对位搬运平台上的另一所述预设位置，将另一所述面板与相应的另一所述测试压头结合。