[发明专利]细小针轴检测定位装置及其使用方法在审

专利信息
申请号: 201811169200.4 申请日: 2018-10-08
公开(公告)号: CN111006568A 公开(公告)日: 2020-04-14
发明(设计)人: 王斌;殷红秋;杨建华 申请(专利权)人: 中核新科(天津)精密机械制造有限公司
主分类号: G01B5/08 分类号: G01B5/08
代理公司: 天津创智天诚知识产权代理事务所(普通合伙) 12214 代理人: 周庆路;田阳
地址: 300000 天津市津南区经济*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 细小 检测 定位 装置 及其 使用方法
【说明书】:

发明公开了一种细小针轴检测定位装置及其使用方法,包括竖直设置的定位基座和由压紧轴承、压把和压簧组成的压紧机构;所述压把与定位基座平行设置,压把中央与定位基座铰接,压紧轴承设置在压把的顶端并与V型槽的中央位置相对,压把底部面向定位基座的一侧连接有压簧,压簧的另一端连接在定位基座上。本发明可对细小针轴施加径向压紧力,力的大小由压簧的钢丝直径决定,可通过更换不同钢丝直径的压簧实现压紧力的改变;当需要将细小针轴绕轴线旋转一定角度进行重新测量时,无需取下细小针轴,压紧轴承即可实现随动;当需要改变对细小针轴的轴向压紧位置时,可通过在定位基座与支承架之间增加垫圈实现。

技术领域

本发明涉及机械产品几何量检测技术领域,具体涉及一种细小针轴检测定位装置及其使用方法。

背景技术

细小针轴是典型的阶梯轴结构,在不同直径段的同轴度较好的情况下,通常以大直径段作为测量基准进行夹持定位,从而准确测量小直径段的外径等各项参数。由于细小针轴的表面质量要求较高,只能采用非接触的光学测量法进行检测,该方法要求被测件位置相对稳定,且可以满足透光要求。现有技术中对细小针轴的检测定位通常采用V型块结合手动摆扶方式进行,此种检测方法的定位精度低,容易产生定位误差。因此,亟需结合细小针轴的结构特点设计出一种可满足细小针轴的测量定位要求的检测定位装置。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术的不足,提供一种用于检测细小针轴的重要几何尺寸及形位公差的定位装置,该装置可以实现对细小针轴的几何量检测的准确定位,定位精度高,避免了定位误差的产生。

本发明的另一个目的在于提供一种用于检测细小针轴的重要几何尺寸及形位公差的定位装置及其使用方法。

本发明是通过以下技术方案实现的:

一种细小针轴检测定位装置,包括定位基座和压紧机构;

所述定位基座的侧面水平开设有用于放置细小针轴的定位槽;

所述的压紧机构包括压紧轴承、压把和压簧,所述压把的设置方向平行于所述定位基座且垂直于所述定位槽,所述压把的中央与所述定位基座铰接,所述压紧轴承设置在所述压把的顶端并与所述定位槽的开口位置相对,所述压把底部面向所述定位基座的一侧连接有所述压簧,所述压簧的另一端连接在所述定位基座上。

在上述技术方案中,所述压把的顶端开设有通孔,该通孔内设置有贯穿所述压紧轴承中心的第一连接轴,所述的压紧轴承围绕所述第一连接轴自转。

在上述技术方案中,所述的压紧机构还包括支承架,所述支承架的一侧与所述定位基座上远离定位槽的一端固定连接,另一侧与所述压把的中央铰接。

在上述技术方案中,所述的压紧机构还包括支承架,所述支承架的一侧与所述定位基座上远离定位槽的一端固定连接,另一侧的中心对称面加工有用于放置所述压把的长槽,所述长槽的槽宽大于所述压把的厚度,所述长槽的中心对称面的垂直方向上开设有通孔,该通孔内穿过有第二连接轴,所述的第二连接轴用于连接所述压把和所述支承架,所述的第二连接轴与所述压把之间间隙配合,所述的第二连接轴与所述支承架之间过盈配合。

在上述技术方案中,所述压把的底端朝向所述支承架的一侧挖制有盲孔,所述支承架上与所述盲孔相对的位置设置有与所述盲孔相同的盲孔,所述压簧的两端分别放置于所述的两个盲孔内。

在上述技术方案中,所述定位槽为V型槽,所述V型槽的截面V型角度为30°-90°。

在上述技术方案中,所述的压紧轴承为标准滚动轴承,直径大于所述定位槽的开口高度。

在上述技术方案中,所述支承架与所述定位基座的连接方式为焊接或者螺纹连接。

在上述技术方案中,所述压把的长度大于所述定位基座的高度。

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