[发明专利]磁力吸附式定位及回转机构及其使用方法在审
申请号: | 201811169795.3 | 申请日: | 2018-10-08 |
公开(公告)号: | CN111006623A | 公开(公告)日: | 2020-04-14 |
发明(设计)人: | 王斌;齐铁城;黄运忠;李超;张静辰;殷红秋;杨建华 | 申请(专利权)人: | 中核新科(天津)精密机械制造有限公司 |
主分类号: | G01B21/04 | 分类号: | G01B21/04;G01B21/00 |
代理公司: | 天津创智天诚知识产权代理事务所(普通合伙) 12214 | 代理人: | 周庆路;田阳 |
地址: | 300000 天津市津南区经济*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 磁力 吸附 定位 回转 机构 及其 使用方法 | ||
本发明公开了一种磁力吸附式定位及回转机构及其使用方法,包括固定连接并形成同步回转整体的定位机构和回转机构。本发明可实现带锥面的环形薄盘快速装卡定位,轴向定位采用磁力吸附的方式,吸附力通过改变强力磁柱在导向孔中的轴向位置调节,避免检测定位过程中二次变形,同时可保证形位公差参数的准确检测;回转机构的回转精度达到0.003mm,在不同转速下,精度误差在±0.001mm以内,最大限度地减小了传动系统的系统误差;实现了回转轴系与工件定位台的一体化设计,避免了传动机构和定位机构之间配合误差的出现;还具有摩擦矩小、载荷大、可靠性高等显著优点,可有效避免因回转轴系旋转精度低而带来的系统误差,满足带锥面的环形薄盘快速检测的采点需要。
技术领域
本发明涉及机械产品精密检测技术领域,具体涉及一种磁力吸附式定位及回转机构及其使用方法。
背景技术
带锥面的环形薄盘是一种薄壁金属件,轴向及径向检测项目多,包括厚度、壁厚均匀度、同轴度等重要几何尺寸及形位公差,三坐标测量机检测方法是典型的精密测试方法,虽然可达到较高的测量精度,但检测效率较低,而且对人员的技术水平要求较高,故无法适应批量检测的要求。因此,必须开发可满足批量制造背景下的在线检测方法,研制可实现快速、精确测量的专用检测设备,该设备应可实现对带锥面的环形薄盘的众多参数同时检测,从而提高检测效率。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术的不足,提供一种用于检测带锥面的环形薄盘的重要几何尺寸及形位公差的磁力吸附式定位及回转机构,该机构不仅可实现对带锥面的环形薄盘的精确测量定位,还可以带动其精密回转,从而完成精确的测量采点,进而实现对带锥面的环形薄盘的快速、精确测量,提高了检测效率,适应了批量检测的要求。
本发明的另一个目的是提供一种用于检测带锥面的环形薄盘的重要几何尺寸及形位公差的磁力吸附式定位及回转机构的使用方法。
本发明的另一个目的是提供一种带有磁力吸附式定位及回转机构的检测设备
本发明是通过以下技术方案实现的:
一种磁力吸附式定位及回转机构,包括固定连接并形成同步回转整体的定位机构和回转机构;
所述的定位机构包括定位台,所述的定位台顶端设置有用于吸附带锥面的环形薄盘的强力磁柱;
所述的回转机构包括固定连接在所述定位台底端并能够沿轴向旋转的主轴以及套设在所述主轴外的轴套,所述轴套与所述主轴同轴设置并与所述主轴之间形成相对转动。
在上述技术方案中,所述的回转机构包括上止推盖、下止推盖和螺母,所述上止推盖与所述的主轴顶端固定连接,所述上止推盖的底面与所述轴套顶面之间能够相对转动,所述的下止推盖套设在所述主轴外且所述下止推盖的顶面与所述轴套底面之间能够相对转动,所述螺母与所述主轴的底端通过螺纹连接。
在上述技术方案中,所述上止推盖与所述定位台一体制成或者通过螺钉固定连接。
在上述技术方案中,所述轴套的两端均设置有相同的环形凸沿,所述主轴与所述轴套之间设置有滚珠架,该滚珠架与所述轴套的形状相同,所述滚珠架内嵌置有能够在所述滚珠架内自由滚动的滚珠,所述滚珠均布于所述上止推盖与所述轴套之间、所述轴套与所述下止推盖之间以及所述轴套与所述主轴之间用于实现所述主轴的轴系回转。
在上述技术方案中,位于所述轴套与所述主轴之间的滚珠呈螺旋线形排列。
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