[发明专利]基于最小二乘拟合的传感器数据质量评估方法在审

专利信息
申请号: 201811170448.2 申请日: 2018-10-09
公开(公告)号: CN109284785A 公开(公告)日: 2019-01-29
发明(设计)人: 刘俊;刘瑜;丁自然;孙顺;熊伟;董凯;曹先彬;杜文博 申请(专利权)人: 中国人民解放军海军航空大学;北京航空航天大学
主分类号: G06K9/62 分类号: G06K9/62
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 264001 山东省烟*** 国省代码: 山东;37
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 传感器探测 探测数据 质量评估 最小二乘拟合 传感器数据 信息融合技术 传感器网络 按需提供 大小确定 多源信息 估计偏差 监视区域 目标轨迹 数据拟合 数据支撑 有效评价 质量估计 传感器 拟合 探测 观测
【权利要求书】:

1.基于最小二乘拟合的传感器数据质量评估方法,其特征在于,包括以下步骤:

(1)建立传感器探测数据集合;

(2)利用均方最小二乘拟合目标的探测航迹,具体为:假设目标的探测位置坐标y是x的函数,即y=f(x),令

f(x)=a1r1(x)+a2r2(x)+…+amrm(x)

式中,rj(x)是选定的一组线性无关的函数,aj是待定系数(j=1,2,…,m,m<n,n为观测点的个数,m为线性无关组中元素个数),记

A=[a1,a2,…,am]T,Y=[y1,y2,…,yn]T

通过对函数J(a1,a2,…,am)求极小值,得到

A=(RTR)-1RTY

至此,得到目标探测位置坐标y与x的函数关系,即目标的拟合探测轨迹;

(3)根据平均观测误差评价各传感器探测数据的质量。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国人民解放军海军航空大学;北京航空航天大学,未经中国人民解放军海军航空大学;北京航空航天大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201811170448.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top