[发明专利]基于最小二乘拟合的传感器数据质量评估方法在审
申请号: | 201811170448.2 | 申请日: | 2018-10-09 |
公开(公告)号: | CN109284785A | 公开(公告)日: | 2019-01-29 |
发明(设计)人: | 刘俊;刘瑜;丁自然;孙顺;熊伟;董凯;曹先彬;杜文博 | 申请(专利权)人: | 中国人民解放军海军航空大学;北京航空航天大学 |
主分类号: | G06K9/62 | 分类号: | G06K9/62 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 264001 山东省烟*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 传感器探测 探测数据 质量评估 最小二乘拟合 传感器数据 信息融合技术 传感器网络 按需提供 大小确定 多源信息 估计偏差 监视区域 目标轨迹 数据拟合 数据支撑 有效评价 质量估计 传感器 拟合 探测 观测 | ||
1.基于最小二乘拟合的传感器数据质量评估方法,其特征在于,包括以下步骤:
(1)建立传感器探测数据集合;
(2)利用均方最小二乘拟合目标的探测航迹,具体为:假设目标的探测位置坐标y是x的函数,即y=f(x),令
f(x)=a1r1(x)+a2r2(x)+…+amrm(x)
式中,rj(x)是选定的一组线性无关的函数,aj是待定系数(j=1,2,…,m,m<n,n为观测点的个数,m为线性无关组中元素个数),记
记
A=[a1,a2,…,am]T,Y=[y1,y2,…,yn]T
通过对函数J(a1,a2,…,am)求极小值,得到
A=(RTR)-1RTY
至此,得到目标探测位置坐标y与x的函数关系,即目标的拟合探测轨迹;
(3)根据平均观测误差评价各传感器探测数据的质量。
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