[发明专利]阻抗测量连接件、阻抗测量仪器及液晶面板阻抗测量方法

说明书

本发明提出一种阻抗测量连接件、阻抗测量仪器及液晶面板阻抗测量方法，该阻抗测量连接件用于电性连接液晶面板上的测试点位和治具的金手指，治具的金手指电性连接电阻测量仪，所述阻抗测量连接件包括：固定模块，将阻抗测量连接件固定在所述治具上；导电胶模块，用于电性连接测试点位和金手指的，其内部具有并列的贯穿排布的多个镂空圆孔。

技术领域

本发明属于液晶显示领域，涉及用于液晶面板表面阻抗的阻抗测量连接件、阻抗测量仪器以及液晶面板阻抗测量方法。

技术背景

在液晶面板生产过程中，为了避免由于液晶面板表面阻抗值不符合规格造成的静电击伤、画面显示效果差、触摸屏反应速度慢等问题，需要测量液晶面板表面ITO膜层的阻抗值。目前采用的检查模块是由5根Pin组成的阻抗测量连接件，其一端与液晶面板接触，另一端连接测量回路进行阻抗值测量，一般是在液晶面板的两个对角处选取测试点位进行测量。

图1所示是现有阻抗测量连接件，一般测量液晶面板表面阻抗值的模块由四个部分组成，包括Pin针、上盖板、固定Pin针模块、固定模块。

图2是现有阻抗测量连接件的局部细节图，如图2所示，现有阻抗测量连接件在测量时仅5根pin针与ITO膜层接触，与面板接触面积较小，极易在Pin针通电测量过程中有异物附着在针尖上造成测量失败。此外，Pin针使用成本高且寿命较短，更换Pin针时需要将上盖板拆卸后才可进行Pin针更换，由于Pin针较小且一次需更换5根Pin针，更换耗时较长。

发明内容

本发明提供一种阻抗测量连接件，该阻抗测量连接件利用导电胶的导电性以及可压缩性的特性，使用带有镂空圆孔的导电胶模块代替原有的5根pin针，增加了测量时的接触面积，减少阻抗值测量失败的发生率并节约成本。

本发明的技术方案如下：

本发明公开了一种阻抗测量连接件，用于电性连接液晶面板上的测试点位和治具的金手指，治具的金手指电性连接电阻测量仪，所述阻抗测量连接件包括：

固定模块，将阻抗测量连接件固定在所述治具上；

导电胶模块，用于电性连接测试点位和金手指，其内部具有并列的贯穿排布的多个镂空圆孔。

进一步地，所述镂空圆孔的贯穿方向平行于液晶面板表面。

进一步地，所述阻抗测量连接件还包括定位销所述，定位销嵌于固定模块和导电胶模块之间，将固定模块和导电胶模块相对固定。

进一步地，所述固定模块设有固定螺丝孔和固定在固定螺丝孔内的螺丝，所述固定模块通过螺丝将阻抗测量连接件固定在所述治具上。

进一步地，所述导电胶模块顶端一侧设有一凸起部分，所述凸起部分在测量时与治具的金手指接触。

进一步地，所述导电胶模块的底端呈台阶状，设有第一底面、台阶侧面以及第二底面，第一底面在测量时与液晶面板的测试点位进行接触，第二底面和台阶侧面在测量时与固定模块接触并起到限位作用。

进一步地，所述导电胶模块由胶粘剂固化形成且具有导电性。

一种阻抗测量仪器，包括两个任一项上述的阻抗测量连接件、设有两个金手指的治具以及电阻测量仪；每个阻抗测量连接件分别电性连接液晶面板上的一个测试点位，且每个阻抗测量连接件分别电性连接治具的一个金手指；治具连接电阻测量仪。

一种液晶面板阻抗测量方法，使用上述的阻抗测量仪器进行测量,包括步骤：

S1：将两个阻抗测量连接件分别固定在治具上；

S2：分别将每个阻抗测量连接件与治具的一个金手指进行接触；

S3：分别将每个阻抗测量连接件与液晶面板的一个测试点位进行面接触；