[发明专利]一种化工废气燃烧炉的无损检测装置在审
申请号: | 201811178123.9 | 申请日: | 2018-10-10 |
公开(公告)号: | CN109406530A | 公开(公告)日: | 2019-03-01 |
发明(设计)人: | 张耀丰;施鹏飞;向阳;李海刚;赵丹 | 申请(专利权)人: | 南京佳业检测工程有限公司 |
主分类号: | G01N21/88 | 分类号: | G01N21/88;G01L5/00 |
代理公司: | 南京众联专利代理有限公司 32206 | 代理人: | 顾进 |
地址: | 210000 江苏省南京*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体制冷片 燃烧炉 无损检测装置 红外检测器 红外检测 化工废气 导热片 冷却组件 导冷片 支撑杆 使用寿命延长 检测器检测 燃烧炉内壁 安全合理 固定设置 外壳结构 组件包括 万向节 冷端 炉壁 热端 匹配 检测 | ||
本发明公开了一种化工废气燃烧炉的无损检测装置,包括冷却组件、红外检测组件,冷却组件包括半导体制冷片、导热片、导冷片,半导体制冷片固定设置在燃烧炉的炉壁上,半导体制冷片的冷端与导冷片连接,半导体制冷片的热端与导热片连接,导热片位于燃烧炉内壁上,半导体制冷片的顶部设有支撑杆,支撑杆的顶部通过万向节连接红外检测组件,红外检测组件包括外壳、设置在外壳内的与外壳结构相匹配的红外检测器。同时公开了一种具有无损检测装置的化工废气燃烧炉。本发明有效的降低检测器检测环境处的温度,红外检测器的使用寿命延长,同时红外检测器可安全合理的安装在燃烧炉上,同时实现自由旋转,实现快速高效的检测。
技术领域
本发明涉及压力检测技术领域,具体涉及一种化工废气燃烧炉的无损检测装置。
背景技术
工业燃烧炉主要用于燃烧废气,实现对废气的有效处理。无损检测是指在不损害或不影响被检测对象使用性能,不伤害被检测对象内部组织的前提下,利用材料内部结构异常或缺陷存在引起的热、声、光、电、磁等反应的变化,以物理或化学方法为手段,借助现代化的技术和设备器材,对试件内部及表面的结构、性质、状态及缺陷的类型、性质、数量、形状、位置、尺寸、分布及其变化进行检查和测试的方法。无损检测是工业发展必不可少的有效工具,在一定程度上反映了一个国家的工业发展水平,无损检测的重要性已得到公认,主要有射线检验(RT)、超声检测(UT)、磁粉检测(MT)和液体渗透检测(PT) 四种。其他无损检测方法有涡流检测(ECT)、声发射检测(AE)、热像/红外(TIR)、泄漏试验(LT)、交流场测量技术(ACFMT)、漏磁检验(MFL)、远场测试检测方法(RFT)、超声波衍射时差法(TOFD)等。
燃烧炉的工业检测主要包括压力检测、流量监测、密封性检测,其中密封性检测主要在于焊缝处是否有裂纹的检测。红外检测是利用红外辐射原理对材料表面进行检测的无损检测方法,其实质是扫描记录被检材料表面上由于缺陷或材料不同的热性质所引起的温度变化。可用于检测胶接或焊接件中的脱粘或未焊透部位,固体材料中的裂纹、空洞和夹杂物等缺陷。
因此,急需一款能有效检测化工废气燃烧炉的焊缝处无损检测装置。现有的红外无损检测装置在使用时存在以下问题:1、由于燃烧炉的温度较高,燃烧炉体的温度较高,因此直接在炉体上检测温度过高,红外检测装置容易损坏,红外检测装置的使用寿命短;2、红外检测装置在燃烧炉体的安装问题,由于现有技术中的红外检测的一端为手持式,检测时耗时耗力,因此合理的将红外检测器直接安装在炉体上是急需解决的技术问题。
发明内容
发明目的:针对现有技术的不足,本发明提供一种化工废气燃烧炉的无损检测装置,有效的降低检测器检测环境处的温度,红外检测器的使用寿命延长,同时红外检测器可安全合理的安装在燃烧炉上,同时实现自由旋转,实现快速高效的检测。
为达到上述目的,本发明提供如下技术方案:
一种化工废气燃烧炉的无损检测装置,包括冷却组件、红外检测组件,所述冷却组件包括半导体制冷片、导热片、导冷片,所述半导体制冷片固定设置在燃烧炉的炉壁上,所述半导体制冷片的冷端与导冷片连接,所述半导体制冷片的热端与导热片连接,所述导热片位于燃烧炉内壁上,所述导热片呈环状设置在燃烧炉的内壁上,所述半导体制冷片上设有若干导冷片,所述导冷片位于燃烧炉的外侧;所述半导体制冷片的顶部设有支撑杆,所述支撑杆的顶部通过万向节连接红外检测组件,所述红外检测组件包括外壳、设置在外壳内的与外壳结构相匹配的红外检测器。
进一步的,所述红外检测器包括PCB板、红外发生器、红外接收器、红外成像器、数据分析模块。
进一步的,所述红外检测组件还连接报警器。
进一步的,所述报警器为声光报警器。
进一步的,所述半导体制冷片为氧化铝陶瓷覆铜基板加装PN半导体元件制成。
进一步的,所述支撑杆与半导体制冷片之间设有支撑块。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南京佳业检测工程有限公司,未经南京佳业检测工程有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201811178123.9/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种AOI缺陷检测系统的性能调节方法
- 下一篇:一种光伏玻璃镀膜缺陷检测系统