[发明专利]阵列码编码与修复方法、装置、计算机设备及存储介质

权利要求书

1.一种可快速修复阵列码的编码方法，其特征在于，所述编码方法包括以下步骤：

将信息分为k*(p-1)块，并存储在(p-1)×k的阵列码中，所述(p-1)×k阵列码为(p-1)行k列的数据存储阵列码，要求所述p为奇数，且p≥k；

在所述数据存储阵列的最后一行添加一行额外的数据，生成p×k的数据存储增广阵列码，所述一行额外的数据均为0；

在所述数据存储增广阵列码的最后一列添加一列额外的数据，生成p×(k+1)的阵列码，所述一列额外的的数据为所述数据所在行的前k列数据之和；

根据预设的r-1个互不相同的数组，生成对应的r-1列数据校验增广列，要求p≥r，所述数组包括k个从0到(p-1)的不同整数，所述r-1列数据校验增广列中第l列数据校验增广列的第i行数据由下述公式计算：

其中i∈(1,p)，所述G_l(j)表示第l列数据校验增广列对应的数组中第j个数据的数值，所述a_x,y表示所述p×k的阵列码中第x行，第y列的数据对应的值，若i-G_l(j)为负值，需额外加上p值，使得i-G_l(j)的值位于1～p之间。

在所述p×(k+1)的阵列码之后添加所述r-1列数据校验增广列，生成p×(k+r)的可快速修复阵列码，所述p×(k+r)的可快速修复阵列码包括前k列组成的p×k的数据存储增广阵列码以及由后r列组成的p×r的数据校验增广阵列码。

2.一种可快速修复阵列码的修复方法，其特征在于，所述修复方法包括以下步骤：

获取待修复的可快速修复阵列码中的全部有效数据存储列以及有效数据校验列，所述有效数据校验列包括p×r的数据校验增广阵列码中的第一列数据f₀以及两列失效数据校验列f_λ，f_λ+1之间包含的所有有效数据校验列{f_λ+1,f_λ+2,...,f_λ+γ}，要求所述f_λ，f_λ+1之间不包含失效数据校验列，且所述f_λ，f_λ+1之间包含的所有有效数据校验列列数γ大于失效数据存储列的列数θ的；

将所述有效数据存储列表示为多项式a_i(x)的形式，所述多项式形式如下：

a_i(x)＝a_1,i+a_2,ix+a_3,ix²+...+a_p-1,ix^p-2

所述i表示所述有效存储列占p×k的数据存储增广阵列码的第i列；

将所述所有的有效数据校验列{f_λ+1,f_λ+2,...,f_λ+γ}分别表示为多项式的形式，所述多项式形式如下：

j＝1,2,...，γ；

将所述有效数据校验列对应的多项式减去有效数据存储列对应的多项式a_i(x)，得到综合多项式所述综合多项式的形式如下：

h＝1,2,...，γ；

建立综合多项式和失效数据存储列对应的多项式之间的关系并化简，所述失效数据存储列对应的多项式表述形式与前述有效数据存储列多项式对应的多项式表述形式相同，所述θ个综合多项式和θ个失效数据存储列对应的θ个多项式之间的关系化简后如下：

所述V_θ×θ(e)是一个范德蒙矩阵，所述

根据所述V_θ×θ(e)范德蒙矩阵以及综合多项式矩阵并利用范德蒙线性系统求解算法计算下述矩阵的值：

将各结果多项式循环左移g(e_m)(f_λ+1-k)并计算模(1+x+x²+...+x^p-1)的结果，然后减少来得到失效数据存储列对应的多项式；

根据所述失效数据存储列对应的多项式恢复所述失效数据存储列并生成完整的数据存储列；

根据所述完整的数据存储列恢复失效的数据校验列，并生成完整的数据校验列；

其中，所述待修复的的可快速修复阵列码的原始阵列码包括前k列组成的p×k的数据存储增广阵列码以及由后r列组成的p×r的数据校验增广阵列码；

所述前k列的数据存储增广阵列码的前p-1行存储有信息，第p行均为0；

所述后r列的数据校验增广阵列码中的第一列中各数据为所述数据所在行的前k列数据之和；

所述后r列的数据校验增广阵列码中的后r-1列数据中的第l列数据校验增广列的第i行数据由下述公式计算生成：

其中i∈(1,p)，所述G_l(j)表示第l列数据校验增广列对应的数组中第j个数据的数值，所述a_x,y表示所述p×k的阵列码中第x行，第y列的数据对应的值，若i-G_l(j)为负值，需额外加上p值，使得i-G_l(j)的值位于1～p之间。