[发明专利]一种防止失效误检的方法、AD检测电路及电子设备

说明书

本发明涉及AD检测领域，特别涉及一种防止失效误检的方法、AD检测电路及电子设备。AD检测电路包括处理单元，其包括第一端口和内部上拉电阻，第一端口包括I/O状态和AD检测状态，内部上拉电阻的一端用于与电源连接，内部上拉电阻的另一端与所述第一端口连接。基于此，防止失效误检的方法包括：上电后，将第一端口的状态置于I/O状态，电源通过内部上拉电阻为充电电容充电；将第一端口的状态置于AD检测状态，采集AD电压值；获取至少一个周期的AD电压值；判断AD电压值是否均等于电源电压；若是，检测出AD检测电路工作在异常状态；若否，检测出AD检测电路工作在正常状态。本发明可防止AD检测电路失效误检，提升安全性。

技术领域

本发明涉及AD检测技术领域，特别是涉及一种防止失效误检的方法、AD检测电路及电子设备。

背景技术

目前，大部分AD检测电路是通过电阻分压来采集电压，由于AD采集端口极易受到干扰，当电路出现失效状态时，AD采集端口状态不稳定，导致检测数据错误，尤其是温度检测方面，甚至可能造成严重的后果。

请参阅图1，图1是现有技术提供一种AD检测电路的电路结构示意图。如图1所示，通过MCU的AD采集端口采集电阻R2和电阻R3组成分压电路的电压值，由于电路不稳定，极易受噪声干扰，导致采集的数据不准确，故而，增加电阻R1和电容C1组成的抗干扰电路，滤除高频异常信号，提高了采集数据的准确性和稳定性。

发明人在实现本发明的过程中，发现传统技术至少存在以下问题：在图1中，当电阻R1失效开路时，即抗干扰电路失效开路时，此时，电容C1上的电压随机且易受干扰，导致AD检测电路失效误检。比如，在检测负载温度时，当R1失效开路时，检测温度有可能在持续低温范围内变动，但此时实际负载温度有可能因为检测错误而失控，甚至引起安全事故。

发明内容

本发明实施例旨在提供一种防止失效误检的方法、AD检测电路及电子设备，其解决了AD检测电路失效误检的技术问题。

为解决上述技术问题，本发明实施例提供以下技术方案：

在第一方面，本发明实施例提供一种防止失效误检的方法，应用于 AD检测电路，所述AD检测电路包括处理单元、充电电容、第一电阻、第二电阻和第三电阻，所述处理单元包括第一端口，所述第一端口包括 I/O状态和AD检测状态，所述充电电容的一端与所述第一端口连接，所述充电电容的另一端与地端连接，所述第一电阻的一端与所述充电电容的一端连接，所述第一电阻的另一端分别与所述第二电阻的一端和所述第三电阻的一端连接，所述第二电阻的另一端用于与电源连接，所述第三电阻的一端与所述地端连接，其特征在于，所述处理单元还包括内部上拉电阻，所述内部上拉电阻的一端用于与电源连接，所述内部上拉电阻的另一端与所述第一端口连接，所述方法包括：

上电后，将所述第一端口的状态置于所述I/O状态，所述电源通过所述内部上拉电阻为所述充电电容充电；

将所述第一端口的状态置于所述AD检测状态，采集AD电压值；

获取至少一个周期的所述AD电压值；

判断所述至少一个周期的所述AD电压值是否均等于所述电源电压；

若是，则确定出所述AD检测电路工作在异常状态；

若否，则确定出所述AD检测电路工作在正常状态。

可选地，所述将所述第一端口的状态置于所述I/O状态之后,所述方法还包括：

开启所述内部上拉电阻。

可选地，所述将所述第一端口的状态置于所述AD检测状态，采集 AD电压值包括：

关闭所述内部上拉电阻，将所述第一端口的状态置于所述AD检测状态，采集AD电压值。