[发明专利]产品不良分析装置、方法及计算机可读存储介质在审

专利信息
申请号: 201811186081.3 申请日: 2018-10-11
公开(公告)号: CN111047125A 公开(公告)日: 2020-04-21
发明(设计)人: 张德波 申请(专利权)人: 鸿富锦精密电子(成都)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
主分类号: G06Q10/06 分类号: G06Q10/06;G06Q50/04
代理公司: 深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司 44334 代理人: 饶智彬;李艳霞
地址: 610041 四川*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 产品 不良 分析 装置 方法 计算机 可读 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种产品不良分析装置,其包括显示单元,其特征在于:所述产品不良分析装置运行有产品不良分析系统,所述产品不良分析系统包括:

信息获取模块,用于获取不良产品的特征信息,所述特征信息包括不良项目;

大数据分析模块,用于分析所述不良项目产生的多个原因,将所述不良项目产生的多个所述原因排序,得到所述不良项目的最优分析步骤,所述最优分析步骤包括多个所述原因及其相应的分析顺序;及

可视化指导模块,用于控制所述显示单元显示所述不良产品的特征信息及所述最优分析步骤。

2.如权利要求1所述的产品不良分析装置,其特征在于:所述产品不良分析装置包括智能分析数据库,所述智能分析数据库中存储有同一类型的多个目标产品的不良项目,和所述不良项目相应的原因及其相应的比例;

所述大数据分析模块还用于将所述不良项目与所述智能分析数据库中的不良项目进行匹配,得出所述不良项目产生的多个原因。

3.如权利要求2所述的产品不良分析装置,其特征在于:所述原因包括多个一级原因及每个所述一级原因对应的多个二级原因,在将多个所述原因排序时,依据多个所述一级原因的优先次序和每个所述二级原因的所占比例进行排序;

所述可视化指导模块还用于在控制所述显示单元显示所述最优分析步骤时,控制所述显示单元通过弹窗的方式按照所述最优分析步骤依次显示多个所述一级原因和多个所述二级原因。

4.如权利要求2所述的产品不良分析装置,其特征在于:所述产品不良分析系统还包括:

有效数据收集模块,用于接收并存储依据所述最优分析步骤得到的分析数据,所述分析数据包括所述不良项目及分析得到的不良原因;

所述有效数据收集模块还用于判断维修后同工站的产品是否测试通过,在测试通过时判定所述分析数据为有效数据,并将所述分析数据上传到所述智能分析数据库,以更新所述智能分析数据库中的所述原因的比例。

5.如权利要求4所述的产品不良分析装置,其特征在于:所述产品不良分析装置还包括测试数据库及生产数据库,所述测试数据库中存储有目标产品的测试信息,所述测试信息包括产品序列号、测试工站与测试项目;所述生产数据库中存储有所述目标产品的生产信息,所述生产信息包括所述产品序列号、所述测试工站、所述不良原因、所述测试项目及历史维修信息;

所述有效数据收集模块还用于将所述分析数据存储到所述生产数据库中;

所述维修判断模块还用于依据所述生产数据库中的产品序列号查询所述测试数据库中维修后同工站产品的测试结果,以判断维修后同工站的产品是否测试通过。

6.如权利要求5所述的产品不良分析装置,其特征在于:所述生产数据库中还存储有假性不良产品信息,所述信息获取模块还用于通过预设的信息提取规则获取所述生产数据库中的所述假性不良产品信息,所述可视化指导模块还用于控制所述显示单元对符合预设预警规则的所述假性不良信息进行预警。

7.如权利要求5所述的产品不良分析装置,其特征在于:所述产品不良分析装置还包括员工数据库,所述员工数据库中存储有员工的基本信息和重要绩效指标,所述生产数据库中还存储有员工生产记录,所述信息获取模块还用于获取所述员工数据库中的员工的基本信息和重要绩效指标,以及所述生产数据库中的所述员工生产记录。

8.如权利要求5所述的产品不良分析装置,其特征在于:所述产品不良分析装置还包括图像数据库,所述图像数据库中存储有目标产品的图像信息,包括良品和不良产品的图像,所述图像信息以所述不良项目为标签进行存储;所述信息获取模块还用于通过不良产品的产品序列号从所述测试数据库和所述生产数据库中提取对应的不良产品的特征信息,再通过所述不良项目从所述图像数据库提取所述不良产品的图像。

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