[发明专利]一种确定材料太赫兹吸收峰的方法

权利要求书

1.一种确定材料太赫兹吸收峰的方法，其特征在于，包括如下步骤：

S1、测量含有待测样品信息的太赫兹脉冲e(t)作为样品信号；

S2、从样品信号中截取主透射峰区域信号；

S3、改变时间窗口长度T，从主透射峰区域信号提取不同时间窗口长度的信号，并进行傅里叶变换，得到时间-频谱曲线E(ω,T)；

S4、改变频点ω'频率，从时间-频谱曲线E(ω,T)获得频点ω'频谱振幅随时间窗口变化的时间-频谱振幅曲线E(ω',T)，并取其最大值E_max(ω',T)和全窗口值E(ω',T_max)；

S5、根据时间-频谱振幅曲线E(ω',T)的最大值E_max(ω',T)和全窗口值E(ω',T_max)，计算待测样品的吸收峰；

其中，所述步骤S5中通过如下公式计算待测样品的吸收峰：

2.根据权利要求1所述的确定材料太赫兹吸收峰的方法，其特征在于：所述步骤S2中从样品信号中截取主透射峰区域信号时，删除样品信号中主峰之后的回波部分。

3.根据权利要求2所述的确定材料太赫兹吸收峰的方法，其特征在于：所述步骤S2中从样品信号中截取主透射峰区域信号时，截取点选择为主峰和第一次回波中点。

4.根据权利要求1所述的确定材料太赫兹吸收峰的方法，其特征在于：所述步骤S3中改变时间窗口长度T，从主透射峰区域信号提取不同时间窗口长度的信号时，时间窗口长度的表达式为：

T_n＝t₁+Δt·n；

其中，T_n为第n次采样的时间窗口长度，Δt为采样时间间隔，t₁为样品信号太赫兹脉冲e(t)的起始点。

5.根据权利要求4所述的确定材料太赫兹吸收峰的方法，其特征在于：

所述步骤S3中进行傅里叶变换后，得到的时间-频谱曲线E(ω,T)的x轴为时间窗口长度，y轴为频率，z轴为频谱振幅。

6.根据权利要求1所述的确定材料太赫兹吸收峰的方法，其特征在于：所述步骤S4中，频点ω'频谱振幅随时间窗口变化的时间-频谱振幅曲线E(ω',T)的x轴为时间窗口长度，y轴为频谱振幅。

7.根据权利要求1所述的确定材料太赫兹吸收峰的方法，其特征在于：所述步骤S5还包括频点ω'的根据时间-频谱振幅曲线E(ω',T)变化趋势判断是否存在吸收峰。

8.根据权利要求7所述的确定材料太赫兹吸收峰的方法，其特征在于，所述步骤S5根据频点ω'的时间-频谱振幅曲线E(ω',T)变化趋势判断是否存在吸收峰时，设定阈值，若时间窗口长度大于阈值后，E(ω',T)随时间窗口长度增加单调下降，则为有吸收峰。