[发明专利]对校准物体两相对侧成像的视觉系统的场校准系统和方法

权利要求书

1.一种校准目标，包括：

基部，所述基部限定第一侧和相对的第二侧；

从第一侧突出的第一三维元件，所述第一三维元件具有第一顶部；

从第二侧突出的第二三维元件，所述第二三维元件具有第二顶部；以及

相对于第一侧定位的第一平面和相对于第二侧定位的第二平面，其中基于一加工程序，该加工程序使用第一顶面作为利用该加工程序形成第二顶面的基础，从而第一平面和第二平面基本平行。

2.根据权利要求1所述的校准目标，其中第一平面和第二平面分别位于以下的至少一个上：(a)从基部延伸的突缘，(b)基部的至少一部分，和(c)第一顶部和第二顶部。

3.根据权利要求2所述的校准目标，其中，第一平面和第二平面在它们之间具有预定的厚度，并且通过加工程序形成，在该加工程序中，第一平面是加工第二平面的基础。

4.根据权利要求3所述的校准目标，其中，第一三维元件和第二三维元件中的至少一个包括平截头体。

5.根据权利要求4所述的校准目标，其中，第一三维元件在形状和尺寸上与第二三维元件相似，并且第一三维元件相对于第二三维元件以共同的z轴为中心。

6.根据权利要求5所述的校准目标，其中，平截头体由相邻的数字离散地识别，其中偶数位于第一侧而奇数位于第二侧。

7.根据权利要求3所述的校准目标，其中，加工程序配置为在第一平面和第二平面之间限定预定间隔。

8.根据权利要求7所述的校准目标，其中，第一平面件和第二平面中的至少一个是磨平面或刨平面之一。

9.根据权利要求8所述的校准目标，其中，第一元件和第二元件中的至少一个限定纹理化表面，所述纹理化表面在其上漫射入射光。

10.根据权利要求1所述的校准目标，其中，基部包括与第一三维元件相邻形成的离散第一标记和与第二三维元件相邻形成的离散第二标记。

11.根据权利要求1所述的校准目标，还包括：(a)多个从第一侧突出的第一三维元件，其中第一三维元件分别具有限定平面的第一顶面，以及(b)多个从第二侧突出的第二三维元件，其中第二三维元件分别具有限定平面的第二顶面。

12.一种用于校准视觉系统的方法，所述视觉系统至少具有第一3D传感器和第二3D传感器，以分别对场景中的物体的每个相对侧成像，所述方法包括以下步骤：

在场景内定位校准目标，所述校准目标具有：(a)从第一侧突出的第一三维元件，所述第一三维元件具有限定平面的第一顶面，以及(b)从第二侧突出的第二三维元件，所述第二三维元件具有限定平面的第二顶面；其中基于一加工程序，该加工程序使用第一顶面作为利用该加工程序形成第二顶面的基础，从而第一顶面和第二顶面基本平行；

利用第一摄像机组件获取第一三维元件的第一图像，并利用第二摄像机组件获取第二三维元件的第二图像；以及

基于至少第一图像和第二图像，定位特征，并且利用这些特征确定第一摄像机组件和第二摄像机组件的校准参数。

13.根据权利要求12所述的方法，其中，确定步骤包括使用顶面与底面之间的基本上平行的关系和预定距离值作为校准计算的一部分。

14.根据权利要求13所述的方法，其中，定位特征的步骤包括定位布置在第一侧上的第一多个平截头体的特征和布置在第二侧上的第二多个平截头体的特征。

15.根据权利要求14所述的方法，其中，定位特征的步骤包括确定分别与第一多个平截头体和第二多个平截头体中的平截头体相邻的离散标记。