[发明专利]一种多路数字光模块误码率的测试装置和测试方法在审
申请号: | 201811190682.1 | 申请日: | 2018-10-12 |
公开(公告)号: | CN108964760A | 公开(公告)日: | 2018-12-07 |
发明(设计)人: | 程鲲;李震;何翠平;宋文生;聂杨;柯有强 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第三十四研究所 |
主分类号: | H04B10/079 | 分类号: | H04B10/079 |
代理公司: | 桂林市持衡专利商标事务所有限公司 45107 | 代理人: | 欧阳波 |
地址: | 541004 广西壮*** | 国省代码: | 广西;45 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 数字光模块 测试 上位机 误码率 测试装置 多路 电光转换单元 光电转换单元 误码率指标 测试参数 测试码型 测试需求 发送指令 分析计算 接收参数 实时测试 光模块 转换 送入 传输 返回 | ||
1.一种多路数字光模块误码率的测试装置,包括中央处理器CPU、电光转换单元和光电转换单元,其特征在于:
还包括与CPU连接的可编程门阵列FPGA,FPGA连接4~128套电光转换单元和光电转换单元,待测的数字光模块的输入端连接电光转换单元、输出端连接光电转换单元;所述CPU经以太网与上位机连接,上位机配有人机交互界面;所述FPGA含存储器、作为时钟源的晶振、电信号产生模块和分析计算模块;所述电光转换单元包括驱动电路和激光器,FPGA根据CPU的指令产生的电信号依次送入各电光转换单元的驱动电路,驱动电路按接收的电信号对其连接的激光器进行调制,得到相应的光信号发送到待测的数字光模块;所述光电转换单元包括光电转换器、数字时钟恢复电路和跨阻放大器,待测的数字光模块传输后回传的光信号送入光电转换单元,在光电转换器转换为电信号,再经数字时钟恢复电路和跨阻放大器后送回FPGA进行分析处理。
2.根据权利要求1所述的多路数字光模块误码率的测试装置,其特征在于:
所述电光转换单元的激光器为传输速率高达25Gbit/s的DFB激光器。
3.根据权利要求1所述的多路数字光模块误码率的测试装置,其特征在于:
所述光电转换单元的光电转换器为雪崩光电二极管。
4.根据权利要求1所述的多路数字光模块误码率的测试装置,其特征在于:
所述电光转换单元的驱动电路含电信号处理整形电路,电光转换单元接收的电信号处理整形电路处理后送入驱动电路。
5.根据权利要求1所述的多路数字光模块误码率的测试装置,其特征在于:
所述上位机的人机交互界面为触摸屏或者屏幕和键盘。
6.根据权利要求1所述的多路数字光模块误码率的测试装置,其特征在于:
所述中央处理器配有无线通讯模块,经无线通讯网络与远程计算或相关人员的手机连接。
7.根据权利要求1至6中任一项所述的多路数字光模块误码率的测试装置的测试方法,其特征在于包括如下主要步骤:
步骤Ⅰ、数字光模块的连接
每个待测的数字光模块的输入端连接本装置的一个电光转换单元的输出端,该数字光模块的输出端则连接与上述电光转换单元配套的光电转换单元的输入端,即接入本装置的一个端口;
步骤Ⅱ、上位机的设置
在上位机的人机交互界面上操作人员根据FPGA各电光转换单元和光电转换单元所连接的待测数字光模块的应用需要,选择设置测试光模块数量和端口,及各端口的测试码型、误码率指标和测试速率;
步骤Ⅲ、测试装置进行测试
启动本测试装置进行测试;
中央处理器CPU将上位机对各电光转换单元测量指标的设置信息分析后发送指令到FPGA,FPGA据此产生各电光转换单元相应的电信号发送到各电光转换单元,各驱动电路按接收的电信号对其连接的激光器进行调制,得到相应的光信号发送到待测的数字光模块;待测的数字光模块传输后回传的光信号返回送入光电转换单元,在光电转换器转换为电信号,再经数字时钟恢复电路和跨阻放大器后送回FPGA;FPGA对各路发送和接收电信号进行分析比较,计算各数字光模块的误码率,送入CPU;
步骤Ⅳ、结果处理
CPU将各数字光模块的误码率测试结果传送给上位机。
8.根据权利要求7所述的多路数字光模块误码率的测试装置的测试方法,其特征在于:
所述步骤Ⅱ在上位机设置的测试码型为K28.5,PRBS15,PRBS23和PRBS31中的任一种;
根据需求在上位机设置的误码率指标为≤10-7至≤10-13;
在上位机设置的测试速率为600Mbit/s~25Gbit/s。
9.根据权利要求7所述的多路数字光模块误码率的测试装置的测试方法,其特征在于:
当本测试装置的CPU中有无线通讯模块,步骤Ⅳ中CPU还经无线通讯网络与远程计算或相关人员的手机连接,传送各数字光模块的误码率测试结果。
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