[发明专利]一种太赫兹成像的校准方法及设备有效
申请号: | 201811191952.0 | 申请日: | 2018-10-12 |
公开(公告)号: | CN111044148B | 公开(公告)日: | 2020-10-13 |
发明(设计)人: | 武帅;安德越;冯辉;朱剑飞;涂昊;高炳西;李霆 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第三十八研究所;广州地铁集团有限公司 |
主分类号: | G01J5/00 | 分类号: | G01J5/00 |
代理公司: | 合肥昊晟德专利代理事务所(普通合伙) 34153 | 代理人: | 王林 |
地址: | 230000 安徽省合*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 赫兹 成像 校准 方法 设备 | ||
本发明公开了一种太赫兹成像的校准方法及设备,记录每个太赫兹探测单元的温度;保持第一个太赫兹探测单元的温度不变,改变太赫兹探测单元的输出信号,记录此时的各个太赫兹探测单元的温度;改变环境温度,得到多组太赫兹探测单元温度,分别将其存入标准表格;从标准表格中读取其对应的其他太赫兹探测单元的温度,并将其他太赫兹探测单元的温度控制在对应的温度上,实现了每个太赫兹探测单元输出的信号接近。能够实现对太赫兹探测阵列中各个单元进行有效的一致性校准,可以大幅提升太赫兹探测阵列的一致性,有效弥补目前太赫兹探测阵列一致性较差的缺陷,提升太赫兹探测阵列的性能,拓宽太赫兹探测阵列的使用场景,并进一步提升太赫兹成像的质量。
技术领域
本发明涉及一种太赫兹成像技术,尤其涉及的是一种太赫兹成像的校准方法及设备。
背景技术
太赫兹探测阵列技术对于太赫兹成像领域的发展起到至关重要的作用,然而目前的太赫兹探测阵列技术发展成熟度较低,各个太赫兹探测单元间的一致性较差,即面对相同的输入各个太赫兹探测单元输出信号会有较大差异,这大大降低了整个太赫兹探测阵列的使用效果。
研究发现,太赫兹探测单元的输出信号强烈的受到其自身温度的影响,通过对太赫兹探测阵列中各个单元的温度进行精确控制,可以对其输出信号进行调节从而达到对太赫兹探测阵列进行一致性校准的目的。
发明内容
本发明所要解决的技术问题在于:如何确保太赫兹探测阵列内每个太赫兹探测单元输出信号的一致性,提供了一种太赫兹成像的校准方法及设备。
本发明是通过以下技术方案解决上述技术问题的,本发明的一种太赫兹成像的校准方法,包括以下步骤:
(1)利用基准太赫兹辐射源产生基准太赫兹辐射,太赫兹探测阵列内的多个太赫兹探测单元分别接收该基准太赫兹辐射,得到太赫兹探测单元的输出信号S1、S2、…Sn;
(2)记录每个太赫兹探测单元的温度C1、C2、…Cn;
(3)保持第一个太赫兹探测单元的温度不变,调节其他太赫兹探测单元的温度,从而改变太赫兹探测单元的输出信号S11=S21=…Sn1,记录此时的各个太赫兹探测单元的温度;
(4)将步骤(3)得到的各个太赫兹探测单元温度C11、C21、…Cn1作为预设值存入标准表格;
(5)改变环境温度,得到多组太赫兹探测单元温度,分别将其存入标准表格;
(6)正常工作时,按照测量得到的第一个太赫兹探测单元的温度,从标准表格中读取其对应的其他太赫兹探测单元的温度,并将其他太赫兹探测单元的温度控制在对应的温度上,实现了每个太赫兹探测单元输出的信号接近。
所述太赫兹探测单元至少有两个。可以有多个太赫兹探测单元构成一个太赫兹探测阵列。
一种使用所述的太赫兹成像的校准方法进行校准的设备,所述设备包括太赫兹探测阵列、基准太赫兹辐射源和存储模块;所述太赫兹探测阵列包括多个太赫兹探测单元和多个温控模块;
所述太赫兹探测单元分别探测基准太赫兹辐射源的太赫兹辐射功率,并输出与探测太赫兹信号功率成比例的电压信号;
所述温控模块用于对太赫兹探测单元的测温和温度调节;
所述基准太赫兹辐射源用于对各个太赫兹探测单元提供相同功率的太赫兹辐射源;
所述存储模块用于存放各个太赫兹探测单元的温度对应关系。
所述温控模块包括包覆在太赫兹探测单元外的壳体。用壳体可有有效的控温,防止外界干扰。
所述温控模块还包括空调。用于控制温度在设定的范围。
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