[发明专利]测试机台自检系统及检测方法

权利要求书

1.一种测试机台自检系统，其特征在于，包括：

一检测电路，供设于所述测试机台及供测试一电子产品的电路结构；

一标准电阻，具有一标准电阻值，电性连接所述检测电路以形成一自检电路；

一电压检测单元，电性连接所述自检电路；

其中，当输电至所述自检电路时，所述电压检测单元取得所述自检电路的一测试电压值，所述电压检测单元依据所述测试电压值计算所述标准电阻的一测试电阻值，所述电压检测单元并依据所述标准电阻值及所述测试电阻值判断所述检测电路的一检测结果；

其中，所述标准电阻内建于所述测试机台；在对所述测试机台进行开路检测或低压短路检测或高压短路检测时，所述自检电路与所述电子产品的电路结构不导通。

2.根据权利要求1所述的测试机台自检系统，其特征在于，所述自检电路包括一开路测试回路及一短路测试回路，所述电压检测单元电性连接所述开路测试回路及所述短路测试回路，所述电压检测单元可选择性地切换以使所述标准电阻仅与所述开路测试回路或所述短路测试回路电性导通，其中所述标准电阻与所述开路测试回路或所述短路测试回路串连。

3.根据权利要求2所述的测试机台自检系统，其其特征在于，所述自检电路另包括一四端点电阻测量测试回路，所述电压检测单元可选择性地切换以使所述标准电阻仅与所述四端点电阻测量测试回路形成串联连接。

4.根据权利要求1所述的测试机台自检系统，其特征在于，所述标准电阻是数位可程式化标准电阻。

5.一种利用根据权利要求1至4任一项所述的测试机台自检系统的测试机台检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

输电至所述自检电路；

以所述电压检测单元取得所述自检电路的测试电压值；

以所述电压检测单元依据所述测试电压值计算所述标准电阻的测试电阻值；

以所述电压检测单元依据所述标准电阻值及所述测试电阻值判断所述检测电路的所述检测结果。

6.根据权利要求5所述的测试机台检测方法，其特征在于，以定电流或定电压输电至所述自检电路。

7.根据权利要求5所述的测试机台检测方法，其特征在于，所述方法依序包括以下步骤：定电流输电至所述自检电路进行所述自检电路的开路测试以取得所述测试电阻值，并判断所述检测电路的一开路检测结果；

定电压输低压电至所述自检电路进行所述自检电路的低压短路测试以取得所述测试电阻值，并判断所述检测电路的一低压短路检测结果；

定电压输高压电至所述自检电路进行所述自检电路的高压短路测试以取得所述测试电阻值，并判断所述检测电路的一高压短路检测结果，其中所述高压电定义为相对高压于所述低压电。

8.根据权利要求7所述的测试机台检测方法，其特征在于，另于所述开路测试后或所述高压短路测试后，定电流输电至所述自检电路进行所述自检电路的四端点电阻测量测试以取得所述测试电阻值，并判断所述检测电路的一四端点电阻测量检测结果。

9.根据权利要求7所述的测试机台检测方法，其特征在于，另分別于所述开路测试、所述低压短路测试及所述高压短路测试之后进行所述电子产品的电路结构的开路测试、低压短路测试及高压短路测试。

10.根据权利要求9所述的测试机台检测方法，其特征在于，另分別于所述开路测试、所述低压短路测试、所述高压短路测试及所述自检电路的四端点电阻测量测试之后进行所述电子产品的电路结构的开路测试、低压短路测试、高压短路测试及四端点电阻测量测试。