[发明专利]测试装置、测试系统和测试方法

权利要求书

1.一种测试装置，其包括：

测试基座，其界定容纳空间和开口；以及

反射器，其安置于所述容纳空间中且具有彼此非平行的多个反射表面，其中所述反射表面界定发射空间；

测试天线，其邻近于所述测试基座的开口；以及

装置托座，其安置于所述反射器的所述发射空间中，且界定承接空间以容纳受测装置，所述装置托座包含承接部，所述承接部包含第二信号发射部分，所述第二信号发射部分对应于所述承接部的底侧，

其中由所述受测装置发射的高频波通过所述装置托座的所述第二信号发射部分，由所述测试天线接收到。

2.根据权利要求1所述的测试装置，其中所述反射器界定第一开口和与所述第一开口相对的第二开口，且所述第一开口的宽度不同于所述第二开口的宽度。

3.根据权利要求2所述的测试装置，其中所述反射器的所述第一开口的所述宽度大于所述反射器的所述第二开口的所述宽度。

4.根据权利要求1所述的测试装置，其中所述装置托座进一步包含延伸部分，所述延伸部分从所述承接部延伸到所述测试基座的上表面。

5.根据权利要求4所述的测试装置，其中所述测试基座的所述上表面界定多个狭槽，所述狭槽用于承接所述装置托座的所述延伸部分。

6.根据权利要求4所述的测试装置，其中所述承接部界定上开口、下开口和至少一个侧向开口，且由所述装置托座的所述承接部界定的所述承接空间通过所述下开口和所述侧向开口与所述反射器的所述发射空间连通。

7.根据权利要求1所述的测试装置，其中所述装置托座具有多个外部表面，其接触所述反射器的所述反射表面。

8.根据权利要求1所述的测试装置，其中由所述受测装置发射的高频波被所述反射器的反射表面反射，且接着由所述测试天线接收到。

9.根据权利要求1所述的测试装置，其进一步包括顶部电路板，其安置于所述受测装置上方，且电连接到所述受测装置。

10.根据权利要求9所述的测试装置，其中所述受测装置的电接点经由测试探针电连接到所述顶部电路板。

11.根据权利要求9所述的测试装置，其中由所述受测装置发射的高频波由所述顶部电路板的反射部分反射。

12.根据权利要求9所述的测试装置，其进一步包括转换器板，其安置于所述测试基座的所述上表面上，且经由所述顶部电路板电连接到所述受测装置。

13.根据权利要求9所述的测试装置，其进一步包括底部电路板，其经由转换器板电连接到所述顶部电路板。

14.根据权利要求9所述的测试装置，其中所述顶部电路板经由夹头附接到搬运臂，其中所述夹头用于向所述受测装置施加吸力。

15.根据权利要求1所述的测试装置，其进一步包括夹头，其用于向所述受测装置施加吸力。

16.一种测试装置，其包括：

测试夹具，其界定第一开口和与所述第一开口相对的第二开口，且具有多个反射表面，所述反射表面界定所述第一开口与所述第二开口之间的发射空间；

测试天线，其邻近于所述测试夹具的第二开口；以及

装置托座，其安置于所述发射空间中且界定上开口，所述装置托座包含至少一个第一信号发射部分和第二信号发射部分，其中所述装置托座的所述上开口对应于所述测试夹具的所述第一开口，所述第一信号发射部分和所述第二信号发射部分界定承接空间以容纳受测装置，且所述第二信号发射部分与所述上开口相对，其中由所述受测装置发射的高频波通过所述装置托座的所述第二信号发射部分，由所述测试天线接收到。