[发明专利]一种通过X射线衍射测量取向硅钢取向偏离角的方法

权利要求书

1.一种通过X射线衍射测量取向硅钢取向偏离角的方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1，将取向硅钢放置在样品台中心位置后，将光管角度设置为θ₀-α，探测器在θ₀+α-β至θ₀+α+β的角度范围内扫描；将光管角度设置为θ₀-α+Δθ₁，探测器在θ₀+α+Δθ₁-β至θ₀+α+Δθ₁+β的角度范围内扫描；以此类推，以间隔角度Δθ₁逐渐增加光管角度并进行扫描；当探测器获得的谱线中出现显著的衍射峰后，继续以间隔角度Δθ₁逐渐增加光管角度进行扫描，直到衍射峰的强度出现下降的趋势，即停止扫描，并得到衍射强度最高的光管角度θ_m1；

S2，以上一步得到的衍射强度最高的光管角度θ_m1为中心,将光管角度设置为θ_m1-Δθ₂并进行对应角度范围的扫描，以间隔角度Δθ₂逐渐增加光管角度并进行扫描，Δθ₁Δθ₂，从而得到衍射强度最高的光管角度θ_m2；

S3，以上一步得到的衍射强度最高的光管角度θ_mn为中心,n为大于等于2的正整数，将光管角度设置为θ_mn-Δθ_n+1并进行对应角度范围的扫描，以间隔角度Δθ_n+1逐渐增加光管角度并进行扫描，Δθ_nΔθ_n+1，从而得到衍射强度最高的光管角度；

S4，重复步骤S3，直至Δθ_n+1≤Δθ_r，其中Δθ_r为设定的偏离角分辨率，从而得到谱峰最高的光管角度θ_t和探测器对应的角度θ_d，通过2θ＝(θ_t+θ_d)得到准确的衍射角2θ，通过ψ＝|(θ_d-θ_t)/2|得到取向偏离角ψ。

2.根据权利要求1所述的一种通过X射线衍射测量取向硅钢取向偏离角的方法，其特征在于，所述θ₀是根据PDF卡片中α-Fe(110)晶面对应的衍射半角设置的相近或相同角度。

3.根据权利要求1所述的一种通过X射线衍射测量取向硅钢取向偏离角的方法，其特征在于，所述探测器的扫描速度ν₁取值范围1°-6°/分钟，扫描步长s₁取值范围0.01°-0.04°。

4.根据权利要求1所述的一种通过X射线衍射测量取向硅钢取向偏离角的方法，其特征在于，所述α取值范围5°-10°，β取值范围1°-3°，Δθ₁取值范围1°-2°，Δθ₁Δθ₂…Δθ_n＞Δθ_n+1。

5.根据权利要求1所述的一种通过X射线衍射测量取向硅钢取向偏离角的方法，其特征在于，Δθ_r大于等于衍射仪的最小步进。