[发明专利]phong式光照模型的TOF传感器模型的测距方法有效
申请号: | 201811197742.2 | 申请日: | 2018-10-15 |
公开(公告)号: | CN109507685B | 公开(公告)日: | 2023-06-27 |
发明(设计)人: | 徐江涛;李嘉文;聂凯明;史晓琳;高静 | 申请(专利权)人: | 天津大学 |
主分类号: | G01S17/36 | 分类号: | G01S17/36 |
代理公司: | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人: | 刘国威 |
地址: | 300072*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | phong 光照 模型 tof 传感器 测距 方法 | ||
1.一种phong式光照模型的TOF传感器模型的测距方法,其特征是,步骤如下:
(1)第一部分为光源模型,模拟了光线从光源发出打到物体的实际效果,采用如下公式:
Ib=I0·fD·cosα
其中I0为光源峰值发光强度,Ib为光源发射出的总光强,fD为自定义的距离衰减因数,α为出射光线与法线的夹角,并将得到的光信号传递至下一级光照模型中;
(2)第二部分是基于phong式的光照模型,其主要由三部分组成,一部分是环境光Ie,第二部分是漫反射光强Id,第三部分是镜面反射光强Is,其中
Ie=Ia·Ka
Id=Ip·Kd·(L·N)
Is=Ip·Ks·(V·R)n
其中Ia为环境光强度,Ka为环境光散射强度,Ip为点光源光强,Kd为漫反射强度,L为点光源光线入射矢量,N为法线矢量,Ks为镜面反射强度,V为观察者角度矢量,R为镜面反射矢量,n为镜面反射系数,与表面粗糙度有关,n越大则表面越光滑,镜面反射强度随反射角的增大衰减也越快,另外总的光强公式里在漫反射和镜面反射强度前还有个系数fD为光线随距离衰减系数,公式为
其中D为距离,a0,a1,a2分别为常数项,一次项,二次项的加权系数,总光强I表达式为
其中Ii为多个光源情况下,第i个光源的发光强度,在phong模型的基础上加入时间参数t,从而得到光线随时间变化的衰减程度;并且去掉了phong模型中的环境光成分Ie;
并且加入了加和使得可以模拟出多个点光源情况下,距离因素对传感器成像的影响;
(3)第三部分是传感器模型,基于正弦调制的TOF主要是通过检测发射的信号和反射回来的信号之间的相位差φ来计算距离,如下式所示,其中f为调制频率;
为了获得接收光与发射光的相位差,或者说是获得接收光的相位信息,需要对接收光进行采样四个点,设发射的正弦波为:
S(t)=Asin(wt)
其中A是振幅,w是角频率,接收光为
其中Ar是经过反射之后衰减的振幅,φ是相位差,B是背景光的信号,通过采样计算出相位差从而获得距离信息;
分别采样0°,90°,180°,270的四个点,得到四相采样的结果:
其中A1,A2,A3,A4分别为四个相位收集到的电子数,所以得到相位差φ为:
据上式通过计算出的相位得出距离信息。
2.如权利要求1所述的phong式光照模型的TOF传感器模型的测距方法,其特征是,在实际中,以0°,90°,180°,270°四个点为起点开始积分,积分的时间为正弦信号的半个周期,接着,在传感器模型中加入噪声:散粒噪声是具有泊松分布规律的量子涨落噪声,针对散粒噪声而言,设一个像素在光照之后产生N个电子,然后输出一个信号,那么该信号中包含的随机噪声会服从泊松分布~(0,N),信号的值越大,信号的信噪比越高,反之越低,以这样的规律在模型中加入以积分得到的电子数N为均值的泊松分布随机数作为散粒噪声以及以10个电子为方差的标准正态分布的随机数作为读出电路噪声,这样来模拟光源等因素对散粒噪声以及成像的影响。
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