[发明专利]一种电容可靠性测试电路在审
申请号: | 201811199577.4 | 申请日: | 2018-10-16 |
公开(公告)号: | CN109307814A | 公开(公告)日: | 2019-02-05 |
发明(设计)人: | 袁乙鹏 | 申请(专利权)人: | 江西合力泰科技有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G01R31/02;G01R1/30 |
代理公司: | 宁波市鄞州甬致专利代理事务所(普通合伙) 33228 | 代理人: | 黄宗熊 |
地址: | 343700 *** | 国省代码: | 江西;36 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电源模块 亮灯模块 电阻 保险丝 电连接 可靠性测试电路 负极电连接 待测电容 电容 阴极 阳极 测试模块 正极电 验证 | ||
一种电容可靠性测试电路,它包括电源模块、1个或多个测试模块,每个测试模块均包括第一电阻、第二电阻、保险丝、第一亮灯模块和第二亮灯模块,保险丝的一端与一待测电容的一端电连接,待测电容的另一端与电源模块的正极电连接,保险丝的另一端与电源模块的负极电连接,保险丝与待测电容的连接处与第一电阻的一端电连接,第一电阻的另一端与第一亮灯模块的阳极电连接,第一亮灯模块的阴极与电源模块的负极电连接,第二电阻的一端与电源模块的正极电连接,第二电阻的另一端与第二亮灯模块的阳极电连接,第二亮灯模块的阴极与电源模块的负极电连接。该电容可靠性测试电路无需在成品整机上验证,成本低廉、效率较高。
技术领域
本发明涉及电子元件可靠性测试技术领域,具体涉及一种电容可靠性测试电路。
背景技术
任何电子产品,为了规避可靠性问题,在上市前都要做一系列可靠性测试。作为电子料电容也不例外,电容作为单个部件物料,必须在通电工作状态下才能检验是否有可靠性问题。传统的方法都是将待测电容通过SMT(Surface Mount Technology)表面贴装技术贴装到终端整机产品上才能验证可靠性问题,为了检验一个小小的电子料,却要投料成品整机验证,不仅成本太高,而且效率非常低下。
发明内容
本发明要解决的技术问题是:提供一种无需在成品整机上验证,从而使得成本低廉、效率较高的电容可靠性测试电路。
本发明的技术解决方案是:一种电容可靠性测试电路,其特征在于:它包括电源模块、以及与电源模块电连接的1个或多个测试模块,所述每个测试模块均包括第一电阻、第二电阻、保险丝、第一亮灯模块和第二亮灯模块,所述保险丝的一端与一待测电容的一端电连接,所述待测电容的另一端与电源模块的正极电连接,所述保险丝的另一端与电源模块的负极电连接,所述保险丝与待测电容的连接处与第一电阻的一端电连接,所述第一电阻的另一端与第一亮灯模块的阳极电连接,所述第一亮灯模块的阴极与电源模块的负极电连接,所述第二电阻的一端与电源模块的正极电连接,所述第二电阻的另一端与第二亮灯模块的阳极电连接,所述第二亮灯模块的阴极与电源模块的负极电连接。
本发明电容可靠性测试电路的工作原理如下:
正常情况下,电流通过第二电阻,把第二亮灯模块点亮,形成一个电压来老化待测电容;当可靠性老化测试过程中待测电容短路了,电流会通过保险丝形成回路,第一亮灯模块和第二亮灯模块都会熄灭;然后保险丝继续导通下去,基于保险丝的特性,会烧断保险丝所在的支路,这样电流就会通过第一电阻将第一亮灯模块点亮;因此只要某一测试模块的第一亮灯模块点亮,即可明显识别相应的待测电容在可靠性老化测试过程中失效了。
采用上述结构后,本发明具有以下优点:
本发明电容可靠性测试电路利用待测电容失效后会导通的原理,只要利用几个成本低廉的元器件即可对待测电容进行测试,即使通过增加测试模块的数量一次性测试多个待测电容,也不会使测试电路太过复杂,并且该测试电路可重复使用,无需在成品整机上进行验证,不仅成本低廉,而且效率较高,尤其在同时对多个待测电容进行检测时尤为明显。
作为优选,所述第一亮灯模块和第二亮灯模块的灯光颜色不同。通过不同的灯光设置可更快速显著地区分待测电容是正常状况还是失效状况。
作为优选,所述第一亮灯模块和第二亮灯模块均包括若干串联的LED灯。该设置可使亮灯模块发光效果更好,更醒目。
作为优选,所述第一亮灯模块的LED灯的数量和/或排布形状与第二亮灯模块不同。该设置可更快速显著地区分待测电容是正常状况还是失效状况。
作为优选,所述测试模块设置2-10个。合理数量的测试模块,在提高测试效率的同时,不会过多增加成本。
附图说明:
图1为本发明电容可靠性测试电路的电路图;
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