[发明专利]红外机芯组件噪声盲元查找方法、装置以及红外机芯组件

说明书

本发明公开了一种红外机芯组件噪声盲元查找方法，通过获取探测器阵列输出的原始数据；根据原始数据确定每个像素的时间噪声矩阵；对时间噪声矩阵进行中值滤波，确定中值滤波之后的矩阵和时间噪声矩阵的差值；判断差值的绝对值是否大于预设阈值，如果是，则确定对应位置的像元为噪声盲元。本申请使用像素时间噪声的中值滤波和时间噪声的差进行噪声盲元查找，在添加盲元之后，图像上看不到闪动的噪声盲元，提升了红外机芯组件的成像性能。此外，本申请还提供了一种具有上述技术效果的红外机芯组件噪声盲元查找装置、红外机芯组件以及计算机可读存储介质。

技术领域

本发明涉及红外探测技术领域，特别是涉及一种红外机芯组件噪声盲元查找方法、装置、红外机芯组件以及计算机可读存储介质。

背景技术

探测器面阵是由M行×N列组成的像素阵列。国内主流为640×512或384×288。探测器的时间噪声用于评估探测器对信号的最小分辨能力，进而评估探测器探测温度的最小精度。

现有的测试时间噪声的方法为：将室温档板放置到探测器前方，等待机芯温度稳定；连续采集50帧探测器输出数据矩阵，并通过式(1)计算像元时间噪声V_n(i,j)，单位mV：

其中：F是采集的总帧数，f表示第f帧。由式(2)计算探测器平均时间噪声，其中M和N分别表示阵列的行数和列数，b表示盲元个数，平均时间噪声计算需扣除盲元后再计算。

其中，噪声盲元的计算方式为：通过平均时间噪声电压乘以1.5计算得到。而实际应用中，噪声盲元1.5倍过大，会有一些像素在低频闪动。缩小1.5倍数，则会找到非常多的点，而这些点在实际中并不闪动，不影响正常成像。鉴于此，如何找到这些影响观察的低频闪动像素的坐标位置，是本申请所要解决的技术问题。

发明内容

本发明的目的是提供一种红外机芯组件噪声盲元查找方法、装置、红外机芯组件以及计算机可读存储介质，以查找到影响观察的低频闪动像素的坐标位置。

为解决上述技术问题，本发明提供一种红外机芯组件噪声盲元查找方法，包括：

获取探测器阵列输出的原始数据；

根据所述原始数据确定每个像素的时间噪声矩阵；

对所述时间噪声矩阵进行中值滤波，得到所述中值滤波之后的矩阵和所述时间噪声矩阵的差值；

判断所述差值的绝对值是否大于预设阈值，如果是，则确定对应位置的像元为噪声盲元。

可选地，所述获取探测器阵列输出的原始数据包括：

预先将室温挡板放置在所述探测器前，等待机芯温度达到稳定；

连续采集多帧探测器阵列输出的原始数据。

可选地，所述根据所述原始数据确定每个像素的时间噪声矩阵包括：

依据确定每个像素的时间噪声；

其中，F表示采集的总帧数，f表示第f帧，i,j分别表示像素的第i列第j行，n表示第n帧，V(i,j,f)表示第f帧的时间噪声，表示前n帧i行j列的平均时间噪声。

可选地，所述预设阈值为根据图像参数和探测器的实际情况确定的数值。

可选地，所述预设阈值为1.2。

本发明还提供了一种红外机芯组件噪声盲元查找装置，包括：

原始数据获取模块，用于获取探测器阵列输出的原始数据；

时间噪声矩阵确定模块，用于根据所述原始数据确定每个像素的时间噪声矩阵；