[发明专利]一种随钻中子He3管刻度测试装置

说明书

一种随钻中子He3管刻度测试装置，涉及测井工具技术领域，包括屏蔽装置，以及位于所述屏蔽装置内的中子产生装置和支撑装置，所述支撑装置上设有至少一个用于容置待测He3管的容置孔，所述中子产生装置位于所述支撑装置的上方。本发明实施例的测试装置可对待测He3管的位置进行定位，测试条件一致性较高。

技术领域

本申请涉及测井工具技术领域，具体涉及一种随钻中子He3管刻度测试装置。

背景技术

现有的随钻中子He3管刻度测试没有专门的测试装置，测试比较麻烦，只能单支测试，效率低，并且测试过程中是靠人来确定待测He3管与中子放射源的位置、距离，测试结果受测试者的主观因素影响很大，很难保证每次待测He3管的测试位置一致，另外，测试过程没有任何的屏蔽装置，测试人员在测试过程中接触放射源时间长，受辐射伤害大。

发明内容

本发明的实施例提供一种随钻中子He3管刻度测试装置，包括屏蔽装置，以及位于所述屏蔽装置内的中子产生装置和支撑装置，所述支撑装置上设有至少一个用于容置待测He3管的容置孔，所述中子产生装置位于所述支撑装置的上方。

有益效果：

本发明实施例提供的随钻中子He3管刻度测试装置，其设有专门容置待测He3管的容置孔，可对待测He3管的位置进行定位，测试条件一致性较高。

附图说明

附图用来提供对本发明实施例技术方案的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本发明的实施例一起用于解释本发明实施例的技术方案，并不构成对本发明实施例技术方案的限制。

图1为本发明一实施例的测试装置的爆炸图；

图2为本发明一实施例的中子产生装置的俯视图；

图3为图2中A-A位置的剖视图；

图4为本发明一实施例的支撑装置的爆炸图；

图5为本发明一实施例的屏蔽装置的结构示意图；

附图标记为：1、中子产生装置，2、提手，3、待测He3管，4、支撑装置，5、屏蔽板，6、垫块，7、密封板，8、中子源，9、漫化体，10、第一紧固件，11、容置孔，12、提手槽，13、凹槽，14、屏蔽装置，15、第二紧固件，16、第三紧固件。

具体实施方式

下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本发明的技术方案。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本申请，而非对本申请的限定。

如图1～5所示，本发明的一实施例提供一种随钻中子He3管刻度测试装置，包括屏蔽装置14，以及位于所述屏蔽装置14内的中子产生装置1和支撑装置4，所述支撑装置4上设有至少一个用于容置待测He3管3的容置孔11，所述中子产生装置1位于所述支撑装置4的上方。

本实施例中，所述容置孔11的数目为多个，各容置孔11相互平行设置，各容置孔11的中轴线与一中心线之间的距离相等。所述中子产生装置1内的中子源8位于所述中心线上。将容置孔11设置为多个，可实现批量测试，提高测试效率，减少测试者接触放射源时间，降低测试人员所受的辐射伤害；另外，各容置孔11相对于所述中子源8位置是平等的，因此，可保证待测He3管3在各个容置孔11内的测试条件是相同的，测试结果误差小。