[发明专利]一种高平整度、低损伤单晶碳化硅衬底的快速制备方法有效
申请号: | 201811205285.7 | 申请日: | 2018-10-16 |
公开(公告)号: | CN109545680B | 公开(公告)日: | 2020-11-20 |
发明(设计)人: | 梁庆瑞;王含冠;王瑞;时文灵 | 申请(专利权)人: | 山东天岳先进材料科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/306 | 分类号: | H01L21/306 |
代理公司: | 济南千慧专利事务所(普通合伙企业) 37232 | 代理人: | 吴绍群 |
地址: | 250100 山东省济南市高新区*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 平整 损伤 碳化硅 衬底 快速 制备 方法 | ||
1.一种适用于8英寸单晶碳化硅衬底的高平整度、低损伤单晶碳化硅衬底的快速制备方法,其特征在于,所述制备方法包括如下步骤:
对单晶碳化硅进行全固结磨料加工,然后再进行化学机械抛光处理,获得所述高平整度、低损伤单晶碳化硅衬底;
其中,所述全固结磨料加工包括线切割和砂轮研磨,在所述线切割用切割线上固结磨料颗粒,在所述砂轮研磨用砂轮上固结磨料颗粒;
所述单晶碳化硅衬底的厚度小于200um,所述单晶碳化硅衬底的面型数据:总厚度变化<10um,局部厚度变化<2um,弯曲度<50um,翘曲度<70um,其中,局部厚度变化是指单晶碳化硅衬底表面的1cm*1cm区域的厚度变化。
2.根据权利要求1所述的一种适用于8英寸单晶碳化硅衬底的高平整度、低损伤单晶碳化硅衬底的快速制备方法,其特征在于,
所述单晶碳化硅衬底的表面粗糙度≤0.10nm、细小划痕不合格方块占比<10%、凹坑占比<0.1个/cm2、凸起占比<0.1个/cm2。
3.根据权利要求1所述的一种适用于8英寸单晶碳化硅衬底的高平整度、低损伤单晶碳化硅衬底的快速制备方法,其特征在于,
所述线切割具体为钻石线切割,其中,在进行钻石线切割过程中使用的冷却液中添加质量百分比浓度为2-10%的磨料颗粒;
所述冷却液中使用的磨料颗粒选自氧化铝、金刚石、碳化硼中的一种或多种,所述磨料颗粒的粒径为50-100nm。
4.根据权利要求3所述的一种适用于8英寸单晶碳化硅衬底的高平整度、低损伤单晶碳化硅衬底的快速制备方法,其特征在于,
所述钻石线切割加工步骤中的切割线张力22-40N,线运行速度1200-1800m/min,摇摆角度1-10°,进刀速度5-15mm/h,钻石线直径0.12-0.28mm。
5.根据权利要求4所述的一种适用于8英寸单晶碳化硅衬底的高平整度、低损伤单晶碳化硅衬底的快速制备方法,其特征在于,
所述钻石线切割加工步骤中的切割线张力30-40N,线运行速度1300-1600m/min,摇摆角度3-8°,进刀速度8-12mm/h,钻石线直径0.15-0.20mm。
6.根据权利要求1所述的一种适用于8英寸单晶碳化硅衬底的高平整度、低损伤单晶碳化硅衬底的快速制备方法,其特征在于,
所述砂轮研磨包括粗磨和精磨两个步骤;
其中,所述粗磨中固结磨料是在研磨砂轮上固结了1000目-5000目的磨料颗粒;
所述精磨中固结磨料是在研磨砂轮上固结了20000目-30000目的磨料颗粒。
7.根据权利要求6所述的一种适用于8英寸单晶碳化硅衬底的高平整度、低损伤单晶碳化硅衬底的快速制备方法,其特征在于,
所述粗磨步骤的研磨砂轮的转速为1000-2000rpm、进刀速度为0.2-1um/s;所述精磨步骤的研磨砂轮的转速1000-2000rpm、进刀速度为0.2-1um/s。
8.根据权利要求1所述的一种适用于8英寸单晶碳化硅衬底的高平整度、低损伤单晶碳化硅衬底的快速制备方法,其特征在于,
所述化学机械抛光为酸性化学机械抛光。
9.根据权利要求8所述的一种适用于8英寸单晶碳化硅衬底的高平整度、低损伤单晶碳化硅衬底的快速制备方法,其特征在于,
所述酸性化学机械抛光处理步骤中使用的抛光液包括:磨料、氧化剂、水溶性酸性聚合物、分散剂和纯净水;
其中,磨料的质量百分比浓度为1-30%;
所述磨料选自氧化硅、氧化铝、钻石颗粒、氧化铈、碳化硅、碳化硼、氧化锆、金刚石中的一种或多种;
所述氧化剂选自双氧水、高锰酸钾、硝酸、盐酸、高氯酸钾中的一种或多种;
所述水溶性酸性聚合物选自羧基聚合物、磺酸基聚合物中一种或多种;
所述分散剂选自高级醇、聚乙烯醇、聚乙二醇中的一种或多种,所述分散剂的质量百分比浓度为0.2~1%。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造