[发明专利]一种液晶气泡分析方法及分析装置

说明书

本发明提供一种液晶气泡分析方法，包括：将液晶面板放置于暗室内；打开发光件，将有液晶气泡的位置对位到发光件的出光口，发光件的出光口发出的入射光穿过液晶气泡后射出液晶面板；通过量测机构测量记录入射光射入液晶面板的入射角度和射出液晶面板的出射角度，所述入射角度所对应的数据和所述出射角度所对应的数据用于计算所述液晶气泡的成分。有益效果：通过比对入射角度和出射角度，从而计算确定液晶气泡成分，准确性较高，可有效确认面内液晶气泡成分，从而利于对液晶气泡异常的改善。

技术领域

本发明涉及液晶面板检测技术领域，尤其涉及一种液晶气泡分析方法及分析装置。

背景技术

现有的液晶面板主要由彩色滤光片玻璃基板(Color Filter，CF)和薄膜晶体管玻璃基板(Thin Flim Transimitor，TFT)组成，两玻璃基板间灌入液晶(LC)，并用框胶密封四周。

在液晶面板的生产过程及后续存储、使用过程中常常出现液晶气泡(LC Bubble)现象。目前现有的液晶气泡分析方法有：1、通过显微镜观察框胶是否断裂、穿刺、剥离，是否破片等；2、通过加热冷却观察气泡变化判断；3、通过红墨水浸泡方式确认是否外部渗入。

现有的液晶气泡分析方法虽然可确认比较明显的异常造成的液晶气泡，但是在遇到面内气泡时，无法确认气泡的具体成分，不利于液晶气泡异常的改善。

发明内容

本发明提供一种液晶气泡分析方法，以解决无法确认面内气泡的具体成分的技术问题。

为解决上述问题，本发明提供的技术方案如下：

一种液晶气泡分析方法，包括：

S10、将液晶面板放置于暗室内；

S20、打开发光件，将有液晶气泡的位置对位到发光件的出光口，发光件的出光口发出的入射光穿过液晶气泡后射出液晶面板；

S30、通过量测机构测量记录入射光射入液晶面板的入射角度和射出液晶面板的出射角度，所述入射角度所对应的数据和所述出射角度所对应的数据用于计算所述液晶气泡的成分。

优选的，在所述入射角度与所述出射角度的角度相同的情况下，所述气泡内为真空。

优选的，在所述入射角度与所述出射角度的角度不相同的情况下，所述液晶气泡内为空气。

优选的，所述入射角度所对应的数据和所述出射角度所对应的数据用于计算所述液晶气泡内的空气的成分。

优选的，在所述步骤S10之前，所述液晶气泡分析方法还包括：

S40、去掉位于液晶气泡上方和下方的偏光片。

优选的，在步骤S10之后，且步骤S20之前，所述液晶气泡分析方法还包括：

S50、将暗室抽真空。

优选的，所述入射光为单束光。

优选的，将所述液晶面板水平放置。

优选的，在所述步骤S20之前，所述液晶气泡分析方法还包括：

S70、将所述发光件置于液晶面板下方或上方。

本发明还提供一种液晶气泡分析装置，包括用于提供黑暗的测量环境的暗室、用于发出入射光的发光件以及用于测量入射光射入液晶面板的入射角度和射出液晶面板的出射角度的量测机构。

本发明的有益效果为：通过比对入射角度和出射角度，从而计算确定液晶气泡成分，准确性较高，可有效确认面内液晶气泡成分，从而利于对液晶气泡异常的改善。

附图说明