[发明专利]一种高精跟踪摄像机调焦光轴角度偏差的测试方法

权利要求书

1.一种高精跟踪摄像机调焦光轴角度偏差的测试方法，其特征在于，具有如下步骤：

S1、将两台测量精度为0.1″的光电自准直仪相向放置在稳定的光学平台上，以使两者间的距离能够放下平行光管和被测高精跟踪摄像机，将一台光电自准直仪的光轴与另一台光电自准直仪的光轴调试重合，并且，将一台光电自准直仪的几何轴与另一台光电自准直仪的几何轴调试重合；

S2、放入平行光管，分划板处于物镜焦面上，通过中心偏调试原理使分划板十字中心处于平行光管物镜光轴上，分划板位于平行光管的内部；

S3、调整平行光管整体位置和角度，使平行光管的光轴和右边自准直仪的光轴重合，同时使平行光管的几何轴和右边自准直仪的几何轴重合；

S4、调整分划板俯仰偏摆角度，使分划板和左边自准直仪光轴垂直，同时保证平行光管光轴和右边自准直仪的光轴重合；

S5、放入被测高精跟踪摄像机，调焦，使摄像机能清晰看到平行光管的分划板像，调整高精跟踪摄像机的位置和角度，使摄像机光轴和3米平行光管光轴重合，同时使摄像机几何轴和3米平行光管几何轴重合；

S6、放入光学平晶，调节光学平晶的角度，使光学平晶和左边光电自准直仪光轴垂直，此时平行光管模拟有限远目标；

S7、被测高精跟踪摄像机进行调焦，使摄像机能够清晰看到分划板像，通过显示屏读出此时光轴偏差的像素数，根据摄像机镜头焦距值，得到此时光轴相对无穷远目标时的光轴角度偏差；

S8、依次插入不同厚度的光学平晶，针对不同厚度的光学平晶，重复执行步骤S6-S7，即可测出不同距离的光轴角度偏差，最后作图，得到该高精跟踪摄像机的光轴抖动曲线。

2.根据权利要求1所述的一种高精跟踪摄像机调焦光轴角度偏差的测试方法，其特征在于，所述步骤S8中，光学平晶厚度的计算公式为：

其中，H为光学平晶的厚度，n为光学平晶材料的折射率，f为平行光管焦距，L为模拟距离。

3.根据权利要求1所述的一种高精跟踪摄像机调焦光轴角度偏差的测试方法，其特征在于：所述平行光管的分划板口径小于光电自准直仪的口径。

4.根据权利要求1所述的一种高精跟踪摄像机调焦光轴角度偏差的测试方法，其特征在于：所述光学平晶的口径大于光电自准直仪的口径。

5.根据权利要求1所述的一种高精跟踪摄像机调焦光轴角度偏差的测试方法，其特征在于：所述光学平晶采用前、后面平行度高的光学平晶。