[发明专利]一种维修工具有效
申请号: | 201811209765.0 | 申请日: | 2018-10-17 |
公开(公告)号: | CN109387674B | 公开(公告)日: | 2019-12-24 |
发明(设计)人: | 储飞;吴强 | 申请(专利权)人: | 英特尔产品(成都)有限公司;英特尔公司 |
主分类号: | G01R3/00 | 分类号: | G01R3/00;B25B27/00;B25H3/00;B25J15/06 |
代理公司: | 11376 北京永新同创知识产权代理有限公司 | 代理人: | 钟胜光 |
地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 接触模块 拆卸 用户操作 维修工具 第一层 脱离接触 辅助器 提取器 对准部件 压缩空气 保持器 拆卸器 第三层 弹簧 吸住 握住 脱离 | ||
本发明涉及维修工具,包括:第一提取器,可通过真空吸住接触模块的第一层和多个第二针,以便可由用户操作以从接触模块拆卸第一层和该多个第二针;第一保持器,用于按照该多个第二针在接触模块中放置的方式来存放所拆卸的该多个第二针和第一层;拆卸辅助器,可由用户操作以利用压缩空气来促使接触模块的多个第一针脱离接触模块的第四层;第二提取器,可由用户操作以在接触模块的第二层一侧握住该多个第一针,以及,在针拆卸辅助器促使该多个第一针脱离第四层之后从接触模块取走和存放该多个第一针和接触模块的多个弹簧;拆卸器,可由用户操作以拆卸接触模块的第二层、第三层和第四层以脱离接触模块的层对准部件。利用该维修工具能够减少浪费。
技术领域
本发明涉及维修领域,尤其涉及维修工具。
背景技术
在芯片制造厂中,在对制造出来的芯片进行老化测试时需要使用接触模块(contact module),其具有四个层和1000多个针。
在对芯片进行老化测试的过程中,接触模块需要施加大电流,因此,接触模块中的层和针很容易被烧坏。
目前,一旦接触模块中的至少一个针/层被烧坏,该接触模块就被丢弃不再使用。但是,被烧坏的接触模块的大部分层和针通常都是完好的,因此,目前对被烧坏的接触模块的处置方式造成很大的浪费。
发明内容
本发明的实施例提供一种维修工具,其能够减少浪费。
按照本发明的实施例的一种维修工具,包括:第一提取器,其可通过真空吸住接触模块的第一层和多个第二针,以便可由用户操作以从所述接触模块拆卸所述第一层和所述多个第二针,其中,所述接触模块还包括第二层、第三层、第四层、多个第一针、多个弹簧、多个螺栓和层对准部件,所述第一层、所述第二层、所述第三层和所述第四层由所述层对准部件连接在一起并限定相互之间的位置关系,所述多个第一针穿过所述第二层、所述第三层和所述第四层放置并被所述第四层卡住,所述多个第二针穿过所述第一层放置并被所述第一层卡住,所述多个第一针和所述多个第二针中的每一针具有沿长度方向的内部通孔,所述多个第一针各自的内部通孔包括远离所述第二层的第一通孔和靠近所述第二层的其直径比所述第一通孔的直径大的第二通孔,所述多个弹簧中的每一个放置在所述多个第一针的其中一个的所述第二通孔内,所述多个第二针中的每一个也插入在所述多个第一针的其中一个第一针的所述第二通孔内并与位于其中的弹簧接触,以及,所述多个螺栓将所述第一层和所述第二层连接在一起;第一保持器,用于按照所述多个第二针在所述接触模块中放置的方式来存放所述第一提取器拆卸下来的所述多个第二针和所述第一层;拆卸辅助器,其可由所述用户操作以利用压缩空气来促使所述多个第一针脱离所述第四层;第二提取器,其可由所述用户操作以在所述第二层一侧握住所述多个第一针,以及,在所述针拆卸辅助器促使所述多个第一针脱离所述第四层之后从所述接触模块取走和存放所述多个第一针和所述多个弹簧;以及,拆卸器,其可由所述用户操作以拆卸所述第二层、所述第三层和所述第四层以脱离所述层对准部件。
其中,所述第一提取器具有第一内腔和第三通孔,其中,当所述第一提取器放置在所述第一层的外表面上时所述第一内腔与所述第一层的外表面形成第一空间,并且,所述第一空间的空气可从所述第三通孔被抽走以使得所述第一空间变成真空以吸住所述第一层和所述多个第二针。
其中,所述第一提取器还具有多个第四通孔,当所述第一提取器吸住所述接触模块的所述第一层和所述多个第二针时所述用户可从所述多个第四通孔拆卸所述多个螺栓。
其中,所述第一保持器具有与所述第一层的所述多个第二针穿过的孔相对应的多个第五孔,通过将所述多个第二针插入所述多个第五孔中来实现所述第一保持器按照所述多个第二针在所述接触模块中放置的方式来存放所述第一提取器拆卸下来的所述多个第二针和所述第一层。
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