[发明专利]工件外观缺陷的检测方法及装置

权利要求书

1.一种工件外观缺陷的检测方法，其特征在于，包括：

从工件检测图像中获取工件对应的图像的各像素点的灰度值；

从所述各像素点的灰度值中确定最大灰度值和中值灰度值，其中，所述中值灰度值为具有相同灰度值的像素点最多时对应的灰度值；

根据所述最大灰度值和所述中值灰度值确定缺陷点对应的灰度值阈值；

从所述各像素点的灰度值中确定是否存在灰度值小于所述灰度值阈值的像素点；

在存在灰度值小于所述灰度值阈值的像素点的情况下，确定所述工件外观存在缺陷，并将所述灰度值小于所述灰度值阈值的像素点作为缺陷点，

其中，根据所述最大灰度值和所述中值灰度值确定缺陷点对应的灰度值阈值，包括：

基于以下计算式得到缺陷点对应的灰度值阈值g，

g＝g_m-(g_max-g_m)，其中，g_max为最大灰度值，g_m为中值灰度值。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

从所述缺陷点中去除离散缺陷点，得到至少一个缺陷点集合；

利用面积最小的外接矩形包围所述缺陷点集合，并得到所述外接矩形的长宽比值；

根据所述外接矩形的长宽比值确定所述工件的缺陷类型，其中，

所述工件的缺陷类型为裂纹和凹坑中任一种。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在存在灰度值小于所述灰度值阈值的像素点的情况下，所述方法还包括：

确定灰度值小于所述灰度值阈值的各像素点的第一平均灰度值，以及灰度值小于所述灰度值阈值的像素点除外的各像素点的第二平均灰度值；

计算得到所述第一平均灰度值和所述第二平均灰度值的差值，并记作为第一差值；

将所述第一差值与第一预设差值进行比较，得到比较结果；

在所述比较结果为所述第一差值大于所述第一预设差值的情况下，将所述灰度值小于所述灰度值阈值的像素点作为缺陷点。

4.根据权利要求1-3中任一所述的方法，其特征在于，从所述各像素点的灰度值中确定最大灰度值包括：

确定各像素点的最大灰度值以及第二大灰度值，并计算得到所述最大灰度值和所述第二大灰度值的差值，记作为第二差值；

将所述第二差值与第二预设差值进行比较，得到比较结果；

在所述比较结果为所述第二差值未超过所述第二预设差值时，将各像素点的最大灰度值作为最终的最大灰度值；

在所述比较结果为所述第二差值超过所述第二预设差值时，将各像素点的第二大灰度值作为最终的最大灰度值。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，从工件检测图像中获取工件对应的图像中各像素点的灰度值，包括：

从所述工件检测图像中截取工件对应的图像，并获取工件对应的图像的各像素点的灰度值。

6.一种工件外观缺陷的检测装置，其特征在于，包括：

获取模块，用于从工件检测图像中获取工件对应的图像的各像素点的灰度值；

第一确定模块，用于从所述各像素点的灰度值中确定最大灰度值和中值灰度值，其中，所述中值灰度值为具有相同灰度值的像素点最多时对应的灰度值；

灰度值阈值确定模块，用于根据所述最大灰度值和所述中值灰度值确定缺陷点对应的灰度值阈值；

第二确定模块，用于从所述各像素点的灰度值中确定是否存在灰度值小于所述灰度值阈值的像素点；

缺陷点确定模块，用于在存在灰度值小于所述灰度值阈值的像素点的情况下，确定所述工件外观存在缺陷，并将所述灰度值小于所述灰度值阈值的像素点作为缺陷点，

其中，所述灰度值阈值确定模块进一步用于，基于以下计算式得到缺陷点对应的灰度值阈值g，

g＝g_m-(g_max-g_m)，其中，g_max为最大灰度值，g_m为中值灰度值。