[发明专利]一种提高半导体温度传感器测量精度的方法有效
申请号: | 201811212762.2 | 申请日: | 2018-10-18 |
公开(公告)号: | CN109186790B | 公开(公告)日: | 2020-11-10 |
发明(设计)人: | 吴边 | 申请(专利权)人: | 卓捷创芯科技(深圳)有限公司 |
主分类号: | G01K7/01 | 分类号: | G01K7/01 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518067 广东省深圳市南山区*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 提高 半导体 温度传感器 测量 精度 方法 | ||
1.一种提高半导体温度传感器测量精度的方法,其特征在于,所述方法包括如下步骤:
S1,利用电路模型产生两路与温度变化成线性关系的电压值VBE1、VBE2;
S2,计算上述VBE1、VBE2二者的差值
S3,设定比值变量X,所述比值变量
S4,设定温度传感器的标准校准温度为T0,对应于该标准校准温度下,数学模型中的比值变量X为校准温度所对应的标准值X0,此时Sigma-Delta AD模数转换器输出的数字代码标准值为D0;
S5,当实际校准环境温度为Tn时,设定利用第n个温度传感器成品进行温度测量时,比值变量为Xn,Sigma-Delta AD模数转换器所输出的数字代码值为Dn;
S6,根据Dout=A·μ-B,ΔXn=Xn-X0推导得出ΔXn的值;
S7,将上述ΔXn的值与其所对应的数字标识代码Xn建立一一对应的二维表格,并写入内存地址ADDRX0中;
S8,利用第n个温度传感器成品进行温度测量时,比值变量Xn与所述ΔXn的值相叠加,根据Dout=A·μ-B即可计算得出经过校准后的数字代码输出值Dn;
上述公式中,η是与工艺有关的非理想因素,数值约等于1;k是玻尔兹曼常数,数值为1.38×10-23J/K;T是以开尔文为单位的温度值;q为库伦常数,数值约等于9.0×109N·m2/C;N是指在带隙基准电压电路中,或者PTAT电压产生电路中的整数倍比值关系;μ是指温度测量电路中,与温度成正比例系数关系的电压经过一定增益放大之后,占零温度系数的参考电压的比值,其最大和最小值分别为1和0;α是指温度测量电路中,对与温度成正比例系数关系的电压进行线性放大的增益倍数值;X是指温度测量电路中,其中某一个PN结的基极-发射极电压,与两个严格匹配PN结的基极-发射极电压之差的比值;A是指在以开尔文为单位的温度转换到以摄氏度为单位的温度的线性转换公式中的斜率值,其典型值A=600;B是指在以开尔文为单位的温度转换到以摄氏度为单位的温度的线性转换公式中的截距,即零开尔文所对应的摄氏度,标准值为-273.15摄氏度。
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