[发明专利]用于表面电位测量的可伸缩探头装置

说明书

本发明提供用于表面电位测量的可伸缩探头装置，包括壳体、探芯、触头和接地端子，壳体上设置有导向结构，探芯滑动设置于导向结构上，壳体与触头以及接地端子连接，探芯与触头滑动抵接，且探芯活动抵接于接地端子上。通过将探芯抵接于待测物体上以对表面电位进行测量，滑动探芯，使得探芯缩回至壳体上，使得探芯远离待测物体的表面，避免移动用于表面电位测量的可伸缩探头装置时探芯影响待测物体的表面电位，同时，探芯缩回至壳体上时，探芯抵接于接地端子，释放探芯上的残留电位，当再次通过探芯对待测物体进行测试时，能避免探芯上的残留电位影响下个位置的表面电位，从而进一步地避免探芯影响待测物体的表面电位。

技术领域

本发明涉及电位测量技术领域，特别是涉及用于表面电位测量的可伸缩探头装置。

背景技术

绝缘子表面电位的测量属于静电测量的范畴，不能用传统的电工仪表进行测量。目前，表面电位的测量方法主要包括粉尘图法，基于泡克尔斯效应的光学测量方法和静电探头法。粉尘图法最初由利希滕贝格于1778年提出，其原理是利用某些带电的有色固体，如带正电的红色的Pb₃O₄，带负电的白黄色的S，会与绝缘子表面的电荷发生吸附效应，比如负电荷会吸附带正电的Pb₃O₄，正电荷会吸附带负电的S。当将这些特殊的固体粉末喷洒在介质表面时，可以根据介质表面的这些固体粉末的颜色分布来判断介质表面的电位极性及电位分布。其优点是方便、直观，缺点是不能定量表征表面电位，且在喷洒粉尘过程中，可能改变介质表面的电位分布。泡克尔斯效应光学测量方法即线性电光效应法，对于不具有对称中心的晶体来说，当其处在电场中时，其折射率的变化与所加的电场强度成正比关系，即在电场不太强时已经表现得比较明显,因而可以通过测量电场作用下晶体折射率的变化来反映电场的变化，但此方法只适用于透明薄膜，对盆式绝缘子固体表面并不适合。

目前静电探头法是目前国际上表面电位测量领域中使用较广泛的方法。静电探头主要由内部感应导体、内部支撑绝缘体和外部接地屏蔽层组成。对绝缘子表面电位进行测量时，将探头垂直于待测介质表面且距离恒定，绝缘子表面电位会在感应导体上激发感应电压，可对输出感应电压进行测量。当只是考察表面电位的分布规律及影响因素，对不同条件下的实验结果进行横向比较时，采用传统的线性标度方法来计算绝缘子表面电位。

对绝缘固体表面来说，常用的测量方法为静电电容探头法，但是由于测量距离的限制，常规的用于表面电位测量的可伸缩探头装置在移动过程中距离绝缘固体表面较近的时候，会对表面电位有较大的影响，影响测量数据的准确性。

发明内容

基于此，有必要提供一种用于表面电位测量的可伸缩探头装置。

一种用于表面电位测量的可伸缩探头装置，包括壳体、探芯、触头和接地端子，所述壳体上设置有导向结构，所述探芯滑动设置于所述导向结构上，所述壳体与所述触头以及所述接地端子连接，所述探芯与所述触头滑动抵接，且所述探芯活动抵接于所述接地端子上。

上述实施例中的所述用于表面电位测量的可伸缩探头装置，通过将探芯抵接于待测物体上以对待测物体上的表面电位进行测量，对待测物体表面横向的多个点进行测量时，测量完当前位置的表面电位后滑动探芯，使得探芯缩回至壳体上，使得探芯远离待测物体的表面，避免移动用于表面电位测量的可伸缩探头装置时探芯影响待测物体的表面电位，同时，探芯缩回至壳体上时，探芯抵接于所述接地端子，释放探芯上的残留电位，当再次通过探芯对待测物体进行测试时，能避免探芯上的残留电位影响下个位置的表面电位，从而进一步地避免探芯影响待测物体的表面电位，提升用于表面电位测量的可伸缩探头装置测量表面电位的准确性。

在其中一个实施例中，所述触头开设有限位通道，所述探芯穿设于所述限位通道内，且与所述限位通道的侧壁滑动抵接。

在其中一个实施例中，还包括绝缘支撑件，所述绝缘支撑件设置于所述壳体上，所述导向结构设置于所述绝缘支撑件上。