[发明专利]一种硅片圆片切刀修正工艺在审
申请号: | 201811216216.6 | 申请日: | 2018-10-18 |
公开(公告)号: | CN111081634A | 公开(公告)日: | 2020-04-28 |
发明(设计)人: | 葛建秋;张彦;陈玲 | 申请(专利权)人: | 江阴苏阳电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/78 | 分类号: | H01L21/78 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 214400 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 硅片 圆片切刀 修正 工艺 | ||
本发明,一种硅片圆片切刀修正工艺,包括如下步骤:步骤1、切割位置修正:在切割过程,按“START/STOP”键,机器会暂停切割,工作盘移动显微镜下,修正界面出现,用Y∧或Y∧键将基准线与切割区调到相吻合;按F5键,机器将修正切割痕与切割区位置的偏差;按“START/STOP”键,机器将重新开始切割,再按“START/STOP”键,检查修正是否精确,如若需要继续修正,重复上述过程,按“START/STOP”键,机器重新开始切割;步骤2、切刀更换;步骤3、切割速度修正。本发明的一种硅片圆片切刀修正工艺,在切刀出现问题时及时调整切刀位置,并对切刀进行更换和改变相应的切割速度,有效对之前错误的工艺进行有效补救,降低产品成为废品的可能性,操作过程简单。
技术领域
本发明涉及芯片封装行业,具体涉及一种硅片圆片切刀修正工艺。
背景技术
随着科技发展,电子产业突飞猛进,各种集成、控制电路需求急剧增长,对芯片封装的需求也增长迅猛。
芯片封装是指,将精密的半导体集成电路芯片安装到框架上,然后利用引线将芯片与框架引脚相连接,最后用环氧树脂将半导体集成电路芯片固封起来,外界通过引脚与内部的芯片进行信号传输。封装主要是对精密的半导体集成电路芯片进行固封,使半导体集成电路芯片在发挥作用的同时,不受外界湿度、灰尘的影响,同时提供良好的抗机械振动或冲击保护,提高半导体集成电路芯片的适用性。同时封装在金属框架上,增加了散热面积,提高了芯片的运行可靠性。
在切割过程中,刀具有时由于工作人员的疏忽出现走刀错误,需要修正,现有工艺中没有上述修正工艺。
现需要一种硅片圆片切刀修正工艺,以期可以解决上述技术问题。
发明内容
本发明的目的是提供一种硅片圆片切刀修正工艺,以弥补现有测量过程中的不足。
为了达到上述目的,本发明提供了一种硅片圆片切刀修正工艺,步骤如下:
步骤1、切割位置修正:在切割过程,按“START/STOP”键,机器会暂停切割,工作盘移动显微镜下,修正界面出现,用Y∧或Y∧键将基准线与切割区调到相吻合;按F5键,机器将修正切割痕与切割区位置的偏差;按“START/STOP”键,机器将重新开始切割,再按“START/STOP”键,检查修正是否精确,如若需要继续修正,重复上述过程,按“START/STOP”键,机器重新开始切割,若发现基准线与切割痕不重合应首先做基准线与切割痕的修正;
步骤2、切刀更换:在主菜单界面下,按F5键,进入“刀片维护”界面,然后再按F1键,进入“刀片更换”界面,此时主轴停止旋转,切割水停止喷出且Y轴向后移动到换刀位置,打开防水盖,取下前喷水盖。如若机器带“BBD”,还应将“BBD”升到最高点,以便卸刀,使用换刀工具卸下固定刀的螺母,取下刀片;
步骤3、切割速度修正: 在切割进行中的方法:在切割界面中,用数字键在“速度改变”栏中,输入新的速度,按F7键,机器在切下一线时,开始执行新的速度,
在切割暂停中的方法:在切割暂停界面中,用数字键在“速度改变”栏中,输入新的速度,按F7键,再按“START/STOP”键,机器在切下一线时,开始执行新的速度。
优选地,在步骤2中,对切刀进行更换的过程中,首先用蘸了去离子水的棉签清洁“BBD”传感器的表面 ,按F10键,进入“刀片破损检测的调整”界面,检查灵敏度的读数是否在90%至100%范围,反复清洁几次,仍达不到要求,找设备维护人员执行放大器调整,使之达到正常范围内,装上新的刀片,并确认刀片与刀架之间应接触良好,用设有大于30kgf.cm扭力矩上紧刀片固定螺母,如若机器带“BBD”,调节BBD的下降旋钮并在“刀片破损检测的调整”界面中检查并确认敏感器电压在5%-15%之间。
优选地,在上述过程中,当设备异常时,按EMERGENCY STOP紧急停机健,维修。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造