[发明专利]显示面板检测电路及检测方法、阵列基板

说明书

本发明涉及显示器技术领域，提出一种显示面板检测电路，该检测电路包括多级第一开关晶体管、第一控制线、第二控制线、第三控制线、第四控制线、第一信号线、第二信号线。每一级第一开关晶体管的第一端与对应的栅线连接；第一控制线与第2Nx+2y+1级第一开关晶体管的控制端连接；第二控制线与第2Nx+2y+2级第一开关晶体管的控制端连接；第三控制线与第N(2x+1)+2y+1级第一开关晶体管的控制端连接；第四控制线与第N(2x+1)+2y+2级第一开关晶体管的控制端连接，其中，0＜x，0＜2y+1＜2y+2≤N；第一信号线与第2Mx+y级第一开关晶体管第二端连接；第二信号线与第M(2x+1)+y级第一开关晶体管第二端连接，其中，0≤x，0＜y≤M。本公开提供的检测电路可以快速定位故障栅线。

技术领域

本公开涉及显示器技术领域，尤其涉及一种显示面板检测电路及检测方法、阵列基板。

背景技术

在液晶显示器领域，成盒工序为生产中承前启后重要的一环，成盒工序是将TFT基板与彩膜基板合二为一，并切割为单个的液晶盒，液晶盒经过偏光片贴附等后续工序，形成最终产品。液晶盒工序完成以后，需要对液晶盒进行检查，常见的不良主要包含线不良。线不良一般包括栅线、数据线断路以及栅线和数据线短路。

相关技术中，为了方便快速的检查，通常在阵列基板上布置检查电路，然而，相关技术中布置的检测电路只能检测是否出现线不良，并不能对线不良的位置进行定位。

需要说明的是，在上述背景技术部分公开的信息仅用于加强对本公开的背景的理解，因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。

发明内容

本公开的目的在于提供一种显示面板检测电路及检测方法、阵列基板，进而至少在一定程度上克服相关技术中，不能对线不良的位置进行定位的技术问题。

根据本发明的一个方面，提供一种显示面板检测电路，设置于阵列基板上，所述阵列基板包括多行栅线和多列数据线，该检测电路包括多级第一开关晶体管、第一控制线、第二控制线、第三控制线、第四控制线、第一信号线、第二信号线。多级第一开关晶体管与多行所述栅线对应设置，每一级所述第一开关晶体管的第一端与对应的所述栅线连接；第一控制线与第2Nx+2y+1级所述第一开关晶体管的控制端连接；第二控制线与第2Nx+2y+2级所述第一开关晶体管的控制端连接；第三控制线与第N(2x+1)+2y+1级所述第一开关晶体管的控制端连接；第四控制线与第N(2x+1)+2y+2级所述第一开关晶体管的控制端连接，其中，0＜x，0＜2y+1＜2y+2≤N；第一信号线与第2Mx+y级所述第一开关晶体管的第二端连接；第二信号线与第M(2x+1)+y级所述第一开关晶体管的第二端连接，其中，0≤x，0＜y≤M。

在本发明的一种示例性实施例中，该检测电路还包括多级第二开关晶体管、第五控制线、第六控制线、第七控制线、第八控制线、第三信号线、第四信号线。多级第二开关晶体管与多列所述数据线对应设置，每一级所述第二开关晶体管的第一端与对应的所述数据线连接；第五控制线与第2Ax+2y+1级所述第二开关晶体管的控制端连接；第六控制线与第2Ax+2y+2级所述第二开关晶体管的控制端连接；第七控制线与第A(2x+1)+2y+1级所述第二开关晶体管的控制端连接；第八控制线与第A(2x+1)+2y+2级所述第二开关晶体管的控制端连接，其中，0＜x，0＜2y+1＜2y+2≤A；第三信号线与第2Bx+y级所述第二开关晶体管的第二端连接；第四信号线与第B(2x+1)+y级所述第一开关晶体管的第二端连接，其中，0≤x，0＜y≤B。

在本发明的一种示例性实施例中，N为M的整数倍，A是B的整数倍。

在本发明的一种示例性实施例中，N等于12、M等于3，A等于12、B等于3。

根据本发明的一个方面，提供一种显示面板检测方法，应用上述的显示面板检测电路，该检测方法包括：