[发明专利]一种复磁导率测试制样模具及应用方法

说明书

本发明涉及一种复磁导率测试制样模具及应用方法，以解决现有模具各部分配合不恰当、不易拆卸、易发生相对滑动导致成品率低的问题，本发明提供的一种复磁导率测试制样模具及应用方法，模具结构包括上盖板、中间环、底板、定位轴，上盖板、底板均为凹形，上盖板中心设置有中间杆，所述上盖板、底板凹槽面相对，上盖板、底板将中间环夹紧固定，应用方法步骤包括安装、填料、加热、拆卸模具、样品处理，本发明提供的模具及应用方法具有制样样品厚度可控、误差小、样品容易从模具中取出，节约模具制样时间的优势。

技术领域

本发明涉及一种测试材料电磁特性的装置，具体涉及一种材料复磁导率测试的制样模具。

背景技术

复磁导率测试用样品有特殊的结构尺寸要求，具体要求为：外径＜8mm，内径＞3.1mm，厚度＜5mm(一般为2-3mm)，形状：圆环形。

一般测试复磁导率的材料为无机粉体，无机粉体的制样是将适量粉体加入模具，然后施加一定的压力，从而制得样品。目前无机粉体制样模具结构较为简单，传统制样模具不能精确控制样品的厚度，因此制样完成后需要测试样品的厚度，增加了材料复磁导率测试的步骤。

此外常规无机粉体的制样模具无法用于颗粒型高分子-无机复合材料的制样，因为颗粒型高分子-无机复合材料的制样需要进行加热和加压，加热使颗粒复合材料熔化后，再对复合材料熔体施加一定的压力，将多余的复合材料熔体从模具一定的位置中排出模具，而常规制样模具缺陷是无余料排出结构。而且，常规的制样模具为冷压制样，故对模具施加一定压力后，模具易于打开取出样品，而该复合材料加热再冷却后，复合材料与模具粘合牢固，模具不易打开，因此需设计专门的结构以方便模具打开从而取出样品。

综上，为解决颗粒型高分子-无机复合材料制样，迫切需要设计一种新型的制样模具。

发明内容

本发明所要解决的问题是克服现有技术存在的问题，提供一种复磁导率测试制样模具及应用方法，具体的，本发明专利中所涉及的制样模具是为测试颗粒型高分子—无机复合材料的复磁导率而设计的制样模具，使用该制样模具能制得特定结构尺寸的样品，便于材料复磁导率的测试；使用该制样模具能方便的拆开模具，取出样品，并且该制样模具广泛适宜于采用加热加压法制样的颗粒复合材料的制样。

为解决上述技术问题，本发明的技术解决方案是这样实现的：一种复磁导率测试制样模具及应用方法，包括:

一种复磁导率测试制样模具，包括上盖板1、中间环2、底板3、定位轴4，其特征在于：所述上盖板1、底板3均为凹形，所述上盖板1中心设置有中间杆9，所述上盖板1、底板3凹槽面相对，所述中间环2与所述上盖板1、底板3凹槽部分配合置于中间，所述上盖板1、底板3将中间环2夹紧固定，所述上盖板1、中间环2、底板3中心设置有开孔且所述定位轴4置于该开孔处，所述中间杆9外径小于所述中间环2开孔内径，所述中间杆9与中间环2之间的空隙为溢料口10，所述中间杆9和定位轴4、中间环2及底板3之间的空隙处为放料处7。

进一步的，所述上盖板1设置有上盖板螺丝孔5，所述中间环2设置有中间环螺丝孔11，所述底板3上设置有底板螺丝孔6和柱形沉头孔12。

进一步的，所述中间环螺丝孔11与底板所述柱形沉头孔12在垂直方向位置对应，所述上盖板螺丝孔5与所述底板螺丝孔6与中间环螺丝孔11垂直方向位置错位不对应。

进一步的，所述放料处7的各边为锐边无倒角。

一种权利要求2所述的复磁导率测试制样模具的应用方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤1：安装，首先将底板3放置在平面上，然后将中间环2放入底板3的凹槽，同时将底板3上的柱形沉头孔12对准中间环2的螺丝孔，并用螺丝拧紧，插入定位轴4；

步骤2：填料，然后在放料处7中填入待制样的颗粒复合材料，再将上盖板1盖在中间环2上，调整上盖板螺丝孔5使其不与中间环螺丝孔11垂直方向位置对应；