[发明专利]一种闪存块的磨损程度的评估方法及装置

权利要求书

1.一种闪存块的磨损程度的评估方法，应用于控制器，其特征在于，所述闪存块的磨损程度的评估方法的步骤包括：

获取所述闪存块的擦除次数、错误点数以及读次数；

依据所述擦除次数、所述错误点数以及所述读次数生成磨损程度值；

所述依据所述擦除次数、所述错误点数以及所述读次数获得磨损程度值的步骤包括：

依据算式“M＝B+K₁*D-K₂*C”或者算式“M＝B+(K₃*D)÷(K₄*C)”计算所述磨损程度值；其中，M为磨损程度值，B为擦除次数，K₁为预设的第一因子，D为错误点数，K₂为预设的第二因子，C为读次数，预设的第一因子K₁根据控制器的ECC校验能力动态调整，预设的第二因子K₂根据闪存颗粒的特性动态调整，K₃为预设的第三因子，K₄为预设的第四因子，预设的第三因子K₃根据控制器的ECC校验能力动态调整，预设的第四因子K₄根据闪存颗粒的特性动态调整。

2.根据权利要求1所述的闪存块的磨损程度的评估方法，其特征在于，所述获取所述闪存块的读次数的步骤包括：

获取所述闪存块自最近一次被擦除后所存储的读历史；

依据所述读历史获取所述读次数。

3.一种闪存块的磨损程度的评估装置，应用于控制器，其特征在于，包括：

第一信息获取单元，用于获取所述闪存块的擦除次数、错误点数以及读次数；

第一磨损程度值生成单元，用于依据所述擦除次数、所述错误点数以及所述读次数生成磨损程度值；

所述第一磨损程度值生成单元具体用于依据算式“M＝B+K₁*D-K₂*C”或者算式“M＝B+(K₃*D)÷(K₄*C)”计算所述磨损程度值；其中，M为磨损程度值，B为擦除次数，K₁为预设的第一因子，D为错误点数，K₂为预设的第二因子，C为读次数，预设的第一因子K₁根据控制器的ECC校验能力动态调整，预设的第二因子K₂根据闪存颗粒的特性动态调整，K₃为预设的第三因子，K₄为预设的第四因子，预设的第三因子K₃根据控制器的ECC校验能力动态调整，预设的第四因子K₄根据闪存颗粒的特性动态调整。

4.根据权利要求3所述的闪存块的磨损程度的评估装置，其特征在于，所述第一信息获取单元包括：

历史获取模块，用于获取所述闪存块自最近一次被擦除后所存储的读历史；

次数获取模块，用于依据所述读历史获取所述读次数。