[发明专利]物体平面度测量方法及装置、存储介质、电子测量设备

说明书

本发明公开一种物体平面度测量方法及装置、存储介质、电子测量设备，其中方法包括如下步骤：采集待测物体的表面的多个区域图像，每个区域图像的采集位置不同；从多个区域图像中选取相邻的区域图像，并根据相邻的区域图像，获取相邻的区域图像之间的重叠区域；根据重叠区域，计算相邻的区域图像进行拼接的变换矩阵；根据变换矩阵，将每个区域图像拼接到同一平面；根据平面，测量待测物体的平面度。本发明通过从不同方位采集待测物体的多个区域图像，将每个区域图像的局部特征点都变换到同一个全局坐标系下，进而计算待测物体的平面度，在很大程度上，提高了待测物体的平面度测量精度和测量速度，同时提高了待测物体的表面测量范围。

技术领域

本发明涉及表面度平面测量技术领域，具体涉及一种物体平面度测量方法及装置、存储介质、电子测量设备。

背景技术

平面度指的是被测物体实际表面对其理想平面的变动量，它是工业生产检测中的重要检测指标之一。高精度、快速的对工业产品进行平面度检测有助于提升产品质量和检测效率。所以，对物体平面度的研究至关重要。

目前传统的物体平面度测量方法一般为探针采点测量或2D影像测量或3D影像测量，其中，探针采点测量通过多点检测被测物体表面，多次检测，容易导致探头发生损耗，且其测量速度较慢；2D影像测量需要利用摄像头进行多点对焦采集被测物体表面的图片，由于多点对焦需要花费一定时间，故其检测速度较慢，3D影像测量主要采用单组固定位置的结构光投影仪和相机，所以，其测量区域的范围大小有限，不容易测量物体的不同位置，如果需要测量物体不同位置，还需要不断移动被测物体，导致其测量精度和测量速度下降。因此，现有技术中的物体平面度测量方法其测量速度较慢，测量精度和测量范围有限。

发明内容

因此，本发明实施例要解决的技术问题在于现有技术中的现有技术中的物体平面度测量方法其测量速度较慢，测量精度和测量范围有限。

为此，本发明实施例提供了如下技术方案：

本发明实施例提供一种物体平面度测量方法，包括如下步骤：

采集待测物体的表面的多个区域图像，每个区域图像的采集位置不同；

从所述多个区域图像中选取相邻的区域图像，并根据所述相邻的区域图像，获取所述相邻的区域图像之间的重叠区域；

根据所述重叠区域，计算所述相邻的区域图像进行拼接的变换矩阵；

根据所述变换矩阵，将所述每个区域图像拼接到同一平面；

根据所述平面，测量所述待测物体的平面度。

可选地，所述并根据所述相邻的区域图像，获取所述相邻的区域图像之间的重叠区域的步骤包括；

分别获取相邻区域的第一区域图像和第二区域图像；

分别对所述第一区域图像和所述第二区域图像进行预处理；

分别从所述预处理后的所述第一区域图像中提取第一特征点和从所述第二区域图像中提取第二特征点；

分别对所述第一特征点和所述第二特征点进行匹配得到二者的匹配对应点；

根据所述匹配对应点确定所述重叠区域。

可选地，所述根据所述重叠区域，计算所述相邻的区域图像进行拼接的变换矩阵的步骤包括：

获取得到所述重叠区域的所述匹配对应点；

根据所述匹配对应点，利用SVD奇异值分解法计算所述第一特征点与所述第二特征点之间变换的初始矩阵；

根据所述初始矩阵，利用ICP迭代算法计算所述第一特征点和所述第二特征点之间变换的所述变换矩阵。