[发明专利]一种双冗余通用测试系统

说明书

一种双冗余通用测试系统，包括：基础层、服务层和应用层；所述基础层，设置在前端设备上，为所述服务层提供基于CPCI/PXI总线规范的硬件支撑，以将被测对象和后端设备连接；所述服务层，设置在前端设备和后端设备上，用于基于所述基础层向应用层提供服务功能支持；所述应用层，设置在前端设备和后端设备上，用于基于服务层调用所述基础层以实现对所述基础层的控制，为用户提供与所述前端设备或所述后端设备的交互功能。上述技术方案能够适用于不同的测试系统，通用性较高。

技术领域

本发明属于自动化分布式测试系统领域，具体涉及一种双冗余通用测试系统。

背景技术

自动化分布式测试系统一般由前后端设备组成，其中，前端设备由后端设备控制，实施数据采集和处理，并实时发送采集数据到后端；后端设备通过网络接收数据并发送控制命令至前端设备，控制前端设备采集过程的启动、停止等操作。目前，该类测试系统没有形成统一的顶层设计参考或规范，用户应用、服务支持和基础硬件层级不明晰，功能设计不完善。现有技术中，测试系统总体设计一般仅以完成单一功能为目标，实时性、可靠性有待提高，有的只针对模拟信号或数字信号采集测试，有的只获取信号不发送激励。因此，该类测试系统难以适应数据采集量大、激励反馈回路复杂、可靠性和实时性要求高的多种测试环境。

例如：测试信号笔录仪，一般仅涉及信号采集、记录功能，对于自动判读、自主激励要求不高；数字化控制系统，一般注重激励信号的产生和控制，对于反馈信息的实时采集和自主分析一般不作要求；此类系统往往针对特殊需求设计为专用系统，缺乏顶层设计规范和预留扩展需求的支撑，随着测试需求的更新和升级，很难实现针对新需求的兼容或扩展，不利于提升系统的通用性、实时性和可靠性。

发明内容

(一)发明目的

本发明的目的是提供一种能够适用于多种测试环境的双冗余通用测试系统。

(二)技术方案

为解决上述问题，本发明的第一方面提供了一种双冗余通用测试系统，包括：基础层、服务层和应用层；所述基础层，设置在前端设备上，为所述服务层提供基于CPCI/PXI总线规范的硬件支撑，以将被测对象和后端设备连接；所述服务层，设置在前端设备和后端设备上，用于基于所述基础层向应用层提供服务功能支持；所述应用层，设置在前端设备和后端设备上，用于基于服务层调用所述基础层以实现对所述基础层的控制，为用户提供与所述前端设备或所述后端设备的交互功能。

进一步地，所述基础层包括：CPCI/PXI总线架构，为前端设备和后端设备的连接提供满足CPCI/PXI总线规范的硬件架构；模拟和数字采集模块，为模拟和数字采集卡提供插接接口，以实现模拟和数字信号的采集；信号激励控制模块，为激励控制卡提供插接接口，以输出激励信号至被测对象；信号连接与调理模块，为连接线缆与调理卡提供插接接口，以将来自被测对象的输入信号调理至模拟和数字采集卡能够识别的参数范围并发送至所述模拟和数字采集卡，和/或将所述信号激励控制模块输出的信号调理至能够满足激励需求的参数范围并输出至所述被测对象。

进一步地，所述基础层还包括：计算机控制单元，为计算机控制卡提供插接接口，以控制数据采集过程、操作系统和/或应用软件的运行；信息扩展模块，为扩展卡提供插接接口，以和其他类型的系统或外部系统进行交互或者信息共享。