[发明专利]基于质心和惯性中心同步测调的大型高速回转装备多级零部件不平衡量分配方法有效

专利信息
申请号: 201811231169.2 申请日: 2018-10-22
公开(公告)号: CN111076867B 公开(公告)日: 2022-01-11
发明(设计)人: 谭久彬;刘永猛;孙传智 申请(专利权)人: 哈尔滨工业大学
主分类号: G01M1/14 分类号: G01M1/14;B23P21/00
代理公司: 哈尔滨市阳光惠远知识产权代理有限公司 23211 代理人: 安琪
地址: 150001 黑龙*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要:
搜索关键词: 基于 质心 惯性 中心 步测 大型 高速 回转 装备 多级 零部件 不平 衡量 分配 方法
【权利要求书】:

1.基于质心和惯性中心同步测调的大型高速回转装备多级转子不平衡量分配方法,其特征在于,所述大型高速回转装备多级转子不平衡量分配方法为:

首先,建立单级转子的四参数轮廓测量模型;

然后,对所述四参数轮廓测量模型进行幂级数展开获得简化四参数轮廓测量模型,通过所述简化的四参数圆轮廓测量模型中估计单级转子偏心误差并确定所述多级转子中各级转子定位、定向误差引起的第n级转子不平衡量;

随后,利用各级转子不平衡量和动平衡公式获取多级转子初始不平衡量目标函数,并利用所述初始不平衡量目标函数计算获得多级转子初始不平衡量;

最后,利用蒙特卡罗法实现多级转子初始不平衡量的分配;

其中,所述四参数轮廓测量模型包含被测单级转子偏心误差、传感器测头偏移量、传感器测球半径及测量面倾斜误差;

所述大型高速回转装备多级转子不平衡量分配方法的具体过程包括:

步骤一:建立单级转子的四参数轮廓测量模型,所述四参数轮廓测量模型如下:

其中,i=0,1,2,…n-1;ρi为传感器测头到测量回转中心的距离;e为偏心量,即偏心误差;θi为相对于回转中心的采样角度;α为偏心角;r为传感器测球半径;n为采样点数;Δri为表面加工误差;d为传感器测头偏移量;ri为拟合椭圆第i个采样点到几何中心的距离;

步骤二:当偏心误差e相对于转子拟合椭圆短轴r0存在e/r0<10-3的关系时,将步骤一所述单级转子四参数轮廓测量模型通过幂级数展开,获得简化的四参数圆轮廓测量模型;所述简化的四参数圆轮廓测量模型表示为:

其中,ρi为传感器测头到测量回转中心的距离,e为偏心量,θi为相对于回转中心的采样角度,α为偏心角,r为传感器测球半径,r0为拟合椭圆短轴,Δri为表面加工误差,d为传感器测头偏移量,γ为回转轴线与几何轴线的夹角,β为几何轴线在测量平面上的投影与测量初始方向的夹角,n为采样点数;ηi为采样角度中间变量;ξi为椭圆短轴中间变量;

步骤三:将实际测量的圆轮廓数据代入所述简化的四参数圆轮廓测量模型中,估计单级转子偏心误差,获得单级转子偏心误差;

步骤四:利用所述单级转子偏心误差,确定所述多级转子中各级转子定位、定向误差引起的第n级转子不平衡量,所述第n级转子不平衡量表示为:

其中,Ux0-n为装配后第n级转子测量面在X轴方向上的不平衡量;Uy0-n为装配后第n级转子测量面在Y轴方向上的不平衡量;m0-n为装配后第n级转子的质量;pi为第i级转子径向测量面圆心的理想位置向量;dpi为第i级转子径向测量面圆心位置的加工误差向量;Sri为第i级转子绕Z轴旋转θri角度的旋转矩阵;Sr1为单位矩阵;Sxi为第i级转子基准平面绕X轴旋转θxi角度的旋转矩阵,则Sxi-1表示为第i-1级零部件基准平面绕X轴旋转θxi-1角度的旋转矩阵;Syi为第i级转子基准平面绕Y轴旋转θyi角度的旋转矩阵,则Syi-1表示为第i-1级零部件基准平面绕Y轴旋转θyi-1角度的旋转矩阵;

步骤五:将单级转子自身不平衡量和装配过程中由定位和定向误差引入的不平衡量进行矢量相加,得到单级不平衡量,将各级转子不平衡量分别投影到两个校正面,依据动平衡公式得到多级转子初始不平衡量目标函数,实现多级转子初始不平衡量的计算;

步骤六:依据蒙特卡罗法生成各级转子的接触面跳动数据10000组,将随机数带入多级转子初始不平衡量目标函数中,旋转各级大型高速回转装备的旋转角度,进而得到10000组多级转子初始不平衡量参数,根据绘制的分布函数求出概率密度函数,进而得到各级转子的接触面跳动与最终多级转子初始不平衡量的概率关系,实现多级转子初始不平衡量的分配;

步骤一所述拟合椭圆第i个采样点到几何中心的距离ri的模型为:

其中,r0为转子拟合椭圆短轴,为相对于几何中心的采样角度,β为几何轴线在测量平面上的投影与测量初始方向的夹角,γ为回转轴线与几何轴线的夹角,n为采样点数。

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