[发明专利]一种基于磁化率测量土壤层厚度的测定方法

权利要求书

1.一种基于磁化率测量土壤层厚度的测定方法，其特征在于，包括：

S1测定样点土壤表土层的原始磁化率K_b；

S2测定磁性件置于所述表土层的最大磁化率K_m；

S3在所述样点土壤下方的预设深度埋设所述磁性件，形成磁层；

S4测定所述磁层正上方所述表土层的第一磁化率K₁；

S5间隔预设时间后，测定所述磁层正上方所述表土层的第二磁化率K₂；

S6根据土壤层磁化率与土壤层厚度的转换方程，计算土壤层厚度变化值，

所述转换方程为：

其中，K^*的计算公式为：

式中，H为探头到所述磁层的距离，mm；K^*为综合物质磁化率，无量纲；K_b为原始磁化率，无量纲；K_m为最大磁化率，无量纲；K为所述探头测量的物质磁化率，无量纲。

2.根据权利要求1所述的测定方法，其特征在于，所述磁性件的磁性强度范围为6000-10000，所述磁性件的厚度范围为0.5-1.5cm，所述磁性件埋设深度小于等于20cm。

3.根据权利要求1所述的测定方法，其特征在于，在步骤S3中，埋设所述磁性件包括：挖填布设磁性件或剖面布设磁性件。