[发明专利]一种检测银离子迁移的工装装置

说明书

一种检测银离子迁移的工装装置，包括旋转台和支撑架底座；所述旋转台包括四层结构，第一层为圆环形，第二层为半圆筒形，第三层为圆环形，第四层为半球形，所述旋转台的第一层、第二层、第三层和第四层顺序连接；所述支撑架底座为阶梯状圆柱形，支撑架底座的中心设有通孔；所述旋转台的第四层可拆卸的安装在支撑架底座的通孔内；所述旋转台的第四层半球的直径大于支撑架底座的通孔的直径；所述旋转台能够在支撑架底座上水平旋转或倾斜旋转或二者结合旋转。

技术领域

本发明涉及一种检测银离子迁移的工装装置，属于光学敏感器领域。

背景技术

红外地球敏感器是航天高轨道各系列卫星的重要部件，其工作原理是产生光电流，用于感应接收扫描结构产生的光栅信号，因此红外地球敏感器是保障高轨道各系列卫星的关键部件。

OP604器件(光电三极管)是红外地球敏感器的重要器件，用于航天产品领域的一种光电器件，该器件存在封装密度高、体积小、结构复杂、检测难度大的特点，其外形为圆柱形，直径为1.47mm，光电三极管两电极表面均覆有镀金层，在两电极之间有一层极薄的绝缘层，绝缘层厚度在0.46mm～0.51mm之间。这种器件为890nm以PILL为封装形式的镓铝砷红外三极管，与其他三极管的区别在于圆柱形的本体，其发光两侧各有一个小管脚，尺寸仅为0.33mm。此器件精度要求较高，对检验的要求也相应提高。

OP604在使用过程中发生C-E极暗电流变大失效问题，这是由于器件内部采用Ag浆粘接芯片，在水汽、电场及离子粘污的作用下发生的银离子迁移现象(枝晶)，从而导致器件失效。经分析认为，由于该器件的封装结构特殊，无法开展内部水汽含量测试工作，不能在电装前有效剔除该类失效器件。现有技术是在检验环节，增加了筛选试验后的器件镜检要求，使用光学显微镜对筛选试验后的OP604器件进行检查，将存在失效问题的OP604剔除，但由于器件体积小、不易直接夹持固定。

针对银离子迁移现象的检测，需要使用光学显微镜检测OP604内部芯片。在检测过程中，电路板属于不规则结构无法平稳的放置到载物台上，因此检验人员只能手持电路板边框检测，手持检测存在问题如下：

a.手持边框检测时，显微镜的光源透射到器件内部芯片上，由于内部芯片景深程度不一样，需要随时调整角度，加大了检测难度。

b.在高倍显微镜下观看，只要有轻微抖动就会导致镜头难以聚焦；针对间距较小的器件，抖动会造成重复检测或漏检测的现象,对产品存在质量隐患。

c.检测出银离子迁移现象后，需要两人配合完成拍照环节操作，在较高放大倍数显微镜下对迁移现象进行拍照，由于检测人员手持电路板边框会有轻微抖动，导致很难捕捉到清晰照片。

发明内容

本发明要解决的技术问题是：克服现有技术的不足，提供了一种检测银离子迁移的工装装置，用于检测红外地球敏感器OP604器件，本发明工装主要用于固定尺寸较小且不便于抓握的电路板，从而使得对OP604器件的检测效果得到提升，该工装可靠性高、操作性强。

本发明目的通过以下技术方案予以实现：

一种检测银离子迁移的工装装置，包括旋转台和支撑架底座；所述旋转台包括四层结构，第一层为圆环形，第二层为半圆筒形，第三层为圆环形，第四层为半球形，所述旋转台的第一层、第二层、第三层和第四层顺序连接；

所述支撑架底座为阶梯状圆柱形，支撑架底座的中心设有通孔；所述旋转台的第四层可拆卸的安装在支撑架底座的通孔内；所述旋转台的第四层半球的直径大于支撑架底座的通孔的直径；所述旋转台能够在支撑架底座上水平旋转或倾斜旋转或二者结合旋转。

上述检测银离子迁移的工装装置，所述旋转台第一层的圆环轴线、第二层的半圆筒轴线、第三层的圆环轴线和第四层垂直于半球平面且过球心的法线均重合。