[发明专利]一种提高低温光致发光测试精度的实验方法在审
| 申请号： | 201811241280.X | 申请日： | 2018-10-24 |
| 公开（公告）号： | CN109187349A | 公开（公告）日： | 2019-01-11 |
| 发明（设计）人： | 艾尔肯·阿不都瓦衣提;雷琪琪;莫敏·塞来;马丽娅·黑尼;赵晓凡;慎小宝;许焱;李豫东;郭旗 | 申请（专利权）人： | 中国科学院新疆理化技术研究所 |
| 主分类号： | G01N21/01 | 分类号： | G01N21/01;G01N21/63 |
| 代理公司： | 乌鲁木齐中科新兴专利事务所(普通合伙) 65106 | 代理人： | 张莉 |
| 地址： | 830011 新疆维吾尔*** | 国省代码： | 新疆;65 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 光致发光 测试 防热辐射屏 待测样品 凸透镜 光电器件测试 出射窗口 反射激光 入射激光 出射角 单色仪 滤光片 样品架 真空罩 探测器 | ||
1.一种提高低温光致发光测试精度的实验方法，其特征在于：该方法中涉及装置是由真空罩、防热辐射屏、待测样品、样品架、凸透镜、滤光片、单色仪入射激光、光致发光、反射激光和探测器组成，待测样品（2）固定在样品架（3）上，样品架（3）固定在低温恒温器系统样品台上，在低温恒温器系统样品台上安装防热辐射屏（13）和真空罩（10），防热辐射屏（13）侧壁上设有一个入射窗口（15）和一个出射角度大于90度的长方形出射窗口（14），样品架（3）与单色仪（8）之间设有两个凸透镜（5），单色仪（8）一端入口处放置滤光片（7），单色仪（8）另一端出口处设有探测器（9），具体操作按下列步骤进行：
a、该方法使用标准光学光致发光测试系统；
b、将待测样品（2）固定在样品架（3）上，样品架（3）固定在低温恒温器系统样品台上，安装防热辐射屏（13）和真空罩（10），确保系统密封性；
c、调整光路使得入射激光（1）和经待测样品（2）反射的反射激光（4）通过真空罩（10）、入射窗口（11）和出射窗口（12）中心线，确保入射激光（1）和反射激光（4）光束高度与两个凸透镜（5）中心线和单色仪（8）入口中心高度保持一致；
d、对低温恒温器系统进行降温至300K-10K，达到测试温度后，等待五分钟使低温恒温器系统达到稳定状态，在单色仪（8）入口放置滤光片（7），使入射激光（1）打在待测样品（2）上，从待测样品（2）发出来的光致发光（6）通过两个凸透镜（5）后聚焦在单色仪（8）入口，经过滤光片（7）进入单色仪（8），并由连接在单色仪（8）出口的探测器（9）接收。
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