[发明专利]一种Raid特性测试方法、装置、设备及存储介质

说明书

本发明公开了一种Raid特性测试方法，应用于统一存储系统，该方法包括：在达到针对统一存储系统的Raid特性的测试触发条件时，确定统一存储系统包含的磁盘阵列；对各磁盘阵列分别进行级别测试、IO测试、故障恢复测试；基于级别测试结果、IO测试结果和故障恢复测试结果，生成Raid特性测试日志。应用本发明实施例所提供的技术方案，可以覆盖一些人工测试容易遗漏的点和测试容易忽略的点进行覆盖测试，提高测试效率和测试质量。本发明还公开了一种Raid特性测试装置、设备及存储介质，具有相应技术效果。

技术领域

本发明涉及测试技术领域，特别是涉及一种Raid特性测试方法、装置、设备及存储介质。

背景技术

在大数据时代，各行各业的数据都呈现指数级增长，对海量数据的存储需求逐渐增多。目前，使用后端磁盘盘阵的方式组成统一存储产品形态，如图2所示，较好地解决了海量数据存储问题。

在统一存储系统中，通过Raid特性进行磁盘阵列的构建，为用户提供存储服务。Raid为一种将多块独立的磁盘(物理硬盘)按照不同的方式组合起来形成一个磁盘组(逻辑硬盘)，从而提供比单个硬盘更高的存储性能和提供数据备份的技术。从用户角度来看，组成的磁盘组就像是一个硬盘，用户可以对其进行分区、格式化操作等。

Raid特性在统一存储中具有重要作用，Raid特性的运行好坏直接影响着用户数据的安全性，影响用户对统一存储产品的使用体验。如何对Raid特性进行测试，保证Raid特性的正常运行是目前本领域技术人员急需解决的技术问题。

发明内容

本发明的目的是提供一种Raid特性测试方法、装置、设备及存储介质，以对Raid特性进行全面覆盖测试，保证统一存储系统中Raid特性的正常运行。

为解决上述技术问题，本发明提供如下技术方案：

一种Raid特性测试方法，应用于统一存储系统，所述方法包括：

在达到针对所述统一存储系统的Raid特性的测试触发条件时，确定所述统一存储系统包含的磁盘阵列；

获取每个磁盘阵列的Raid级别信息，获得级别测试结果；

依次对每个磁盘阵列进行数据输入/输出操作，获得IO测试结果；

针对每个磁盘阵列，按照设定规则选择该磁盘阵列中一个磁盘，对该磁盘进行故障注入操作，通过该磁盘阵列其他磁盘恢复该磁盘数据，确定该磁盘故障前后数据是否一致，获得故障恢复测试结果；

基于所述级别测试结果、所述IO测试结果和所述故障恢复测试结果，生成Raid特性测试日志。

在本发明的一种具体实施方式中，在所述确定所述统一存储系统包含的磁盘阵列之前，还包括：

分别执行所述Raid特性的各命令行，确定所述Raid特性的各命令行是否正常执行；

在所述Raid特性的各命令行均正常执行的情况下，执行所述确定所述统一存储系统包含的磁盘阵列的步骤。

在本发明的一种具体实施方式中，在对该磁盘进行故障注入操作之后，还包括：

检测对该磁盘的故障注入是否成功；

如果是，则执行所述通过该磁盘阵列其他磁盘恢复该磁盘数据的步骤。

在本发明的一种具体实施方式中，在检测对该磁盘的故障注入未成功时，还包括：

重复执行所述对该磁盘进行故障注入操作的步骤；

在重复次数达到设定阈值时，输出告警信息。

一种Raid特性测试装置，应用于统一存储系统，所述装置包括：