[发明专利]分布式Raid特性测试方法、装置、设备及存储介质

说明书

本发明公开了一种分布式Raid特性测试方法，应用于统一存储系统，该方法包括：在达到针对统一存储系统的分布式Raid特性的测试触发条件时，在统一存储系统中构建Draid磁盘阵列；分别执行分布式Raid特性的各命令行；对Draid磁盘阵列进行数据输入/输出操作，获得IO测试结果；对Draid磁盘阵列中的任意一个成员盘进行故障恢复测试，获得故障恢复测试结果；生成分布式Raid特性测试日志。应用本发明实施例所提供的技术方案，可以覆盖一些人工测试容易遗漏的点和测试容易忽略的点进行覆盖测试，提高测试效率和测试质量。本发明还公开了一种分布式Raid特性测试装置、设备及存储介质，具有相应技术效果。

技术领域

本发明涉及测试技术领域，特别是涉及一种分布式Raid特性测试方法、装置、设备及存储介质。

背景技术

在大数据时代，各行各业的数据都呈现指数级增长，对海量数据的存储需求逐渐增多。目前，使用后端磁盘盘阵的方式组成统一存储产品形态，如图2所示，较好地解决了海量数据存储问题。

统一存储系统通过多种特性为用户提供存储相关服务，分布式Raid特性为其中一个重要特性。分布式Raid即Draid，没有独立的热备磁盘，是将传统Raid的热备磁盘空间分散到Draid磁盘阵列的所有成员盘中。Draid中的热备磁盘空间称为热备空间。如果Draid磁盘阵列中的磁盘发生故障，则该磁盘中的数据会被重新放置在该Draid磁盘阵列的热备空间上，同时，该Draid磁盘阵列的所有成员盘都会参与到重建工作中。

分布式Raid特性在统一存储中具有重要作用，可以消除单片磁盘写入的瓶颈，提高数据重建速度，分布式Raid特性的运行好坏直接影响着用户数据的安全性，影响用户对统一存储产品的使用体验。如何对分布式Raid特性进行测试，保证分布式Raid特性的正常运行是目前本领域技术人员急需解决的技术问题。

发明内容

本发明的目的是提供一种分布式Raid特性测试方法、装置、设备及存储介质，以对分布式Raid特性进行全面覆盖测试，保证统一存储系统中分布式Raid特性的正常运行。

为解决上述技术问题，本发明提供如下技术方案：

一种分布式Raid特性测试方法，应用于统一存储系统，所述方法包括：

在达到针对所述统一存储系统的分布式Raid特性的测试触发条件时，在所述统一存储系统中构建Draid磁盘阵列；

分别执行所述分布式Raid特性的各命令行；

在所述分布式Raid特性的各命令行均正常执行的情况下，对所述Draid磁盘阵列进行数据输入/输出操作，获得IO测试结果；

选择所述Draid磁盘阵列中的任意一个成员盘，对该成员盘进行故障注入操作，通过所述Draid磁盘阵列其他成员盘恢复该成员盘数据，获得故障恢复测试结果；

基于所述IO测试结果和所述故障恢复测试结果，生成所述分布式Raid特性测试日志。

在本发明的一种具体实施方式中，在对该成员盘进行故障注入操作之后，还包括：

检测对该成员盘的故障注入是否成功；

如果是，则执行所述通过所述Draid磁盘阵列其他成员盘恢复该成员盘数据的步骤。

在本发明的一种具体实施方式中，还包括：

如果所述分布式Raid特性的至少一个命令行无法正常执行，则输出提示信息。

在本发明的一种具体实施方式中，在所述分别执行所述分布式Raid特性的各命令行之前，还包括：

搭建适应于所述分布式Raid特性的测试环境；

在所述生成所述分布式Raid特性测试日志之后，还包括：