[发明专利]同时获取光响应图像和反射率图像的方法、装置、系统及存储介质

权利要求书

1.同时获取光响应图像和反射率图像的方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1、产生一系列不同频率的哈达玛基底图案对，将该哈达玛基底图案转化为结构光场；

S2、将结构光场投影至待测光电器件，并将所述待测光电器件的反射光传送至光电探测器件，同时采集并记录待测光电器件以及光电探测器在所述结构光场照明下产生的电信号；

S3、根据所述结构光场与相应所述电信号的关联性，计算重建所述待测光电器件的光响应图像以及与光响应图像视场相同的反射率图像。

2.根据权利要求1的所述方法，其特征在于，所述S1中，

利用公式(1)和公式(2)生成一系列不同频率的哈达玛基底图案对，

其中P₊₁和P_-1表示一对互补的哈达玛基底图案，H^-1表示哈达玛反变换，(x,y)表示哈达玛基底图案的像素坐标，(f_x,f_y)表示频率，δ_H(f_x,f_y)表示冲击函数。

3.根据权利要求1的所述方法，其特征在于，

所述S2包括：从所述待测光电器件采集到的电信号强度表示为公式(3)和公式(4)，

D₊₁＝∫∫I_func(x,y)·[P₊₁(f_x,f_y,x,y)+P₀]dxdy+ε 公式(3)，

D_-1＝∫∫I_func(x,y)·[P_-1(f_x,f_y,x,y)+P₀]dxdy+ε 公式(4)，

其中D₊₁、D_-1分别表示P₊₁、P_-1哈达玛结构光场照明时从所述待测光电器件采集到的电信号强度，I_func(x,y)表示待测光电器件的光响应图像，P₀是环境光强，ε是噪声；

从所述光电探测器采集到的电信号强度表示为公式(5)和公式(6)，

D′₊₁＝∫∫I_struc(x,y)·[P₊₁(f_x,f_y,x,y)+P₀′]dxdy+ε′ 公式(5)，

D′_-1＝∫∫I_struc(x,y)·[P_-1(f_x,f_y,x,y)+P₀′]dxdy+ε′ 公式(6)，

其中D′₊₁、D′_-1分别表示P₊₁、P_-1哈达玛结构光场照明时从所述光电探测器采集到的电信号强度，I_struc(x,y)表示待测光电器件的反射率图像，P₀′是环境光强，ε′是噪声。