[发明专利]磁场漂移的控制方法、装置和存储介质

权利要求书

1.一种磁场漂移的控制方法，其特征在于，包括：

获取预设位置，以及所述预设位置对应的至少两个匀场片厚度；

根据所述预设位置以及所述匀场片厚度确定第一匀场片厚度组；

基于预设均匀约束函数，计算所述第一匀场片厚度组对应的均匀约束值，并将所述均匀约束值和预设均匀上限值进行比较，将均匀约束值小于或等于所述预设均匀上限值的第一匀场片厚度组确定为第二匀场片厚度组；

基于预设匀场片磁场函数，计算所述第二匀场片厚度组对应的匀场片平均磁场强度，并根据所述匀场片平均磁场强度，将满足预设匀场条件的第二匀场片厚度组确定为目标匀场片厚度组；

根据所述目标匀场片厚度组配置相应预设位置处的匀场片；

其中，所述预设均匀约束函数为：

其中，g(X)是第一匀场片厚度组X对应的均匀约束值；是球坐标系下的主磁场的磁场强度；B(0,0,0)是主磁场在球心位置处的磁场强度；V是主磁场的体积；是连带勒让德多项式；A_nm是主磁场的磁场强度的第一谐波展开系数；B_nm是主磁场的磁场强度的第二谐波展开系数；R₀是谐波展开系数对应的参考球面半径；n是所述第一匀场片厚度组X对应的预设位置的数量；A0_nm是第一初始谐函数项；B0_nm是第二初始谐函数项；f1_nm(x_i)是预设位置i处的第一匀场片厚度为x_i的匀场片对应的第一谐波展开系数；f2_nm(x_i)是预设位置i处的第一匀场片厚度为x_i的匀场片对应的第二谐波展开系数；是预设位置i到参考球面中的参考点j的位置矢量；是预设位置i处的匀场片在参考点j产生的磁场强度；和均是谐波展开的计算常数；M是参考点的数量；μ₀是真空磁导率，是匀场片的饱和磁化矢量，其与匀场片厚度成正比；r_i,j是预设位置i到参考球面中的参考点j之间的距离；是在z方向上的磁场分量；

所述预设匀场片磁场函数为：

其中，a(X)是第二匀场片厚度组X对应的匀场片平均磁场强度；f1₀₀(x_i)是预设位置i处的第二匀场片厚度为x_i的匀场片对应的第一谐波展开系数。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述预设位置以及所述匀场片厚度确定第一匀场片厚度组，包括：

在所述预设位置对应的至少两个所述第一匀场片厚度中选取一个为当前匀场片厚度，并将所述预设位置对应的当前匀场片厚度的集合作为一个第一匀场片厚度组；

重复执行上述操作，直至确定出与所述预设位置对应的全部第一匀场片厚度组。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述匀场片平均磁场强度，将满足预设匀场条件的第二匀场片厚度组确定为目标匀场片厚度组，包括：

根据所述匀场片平均磁场强度和预设匀场片磁场上限值，从所述第二匀场片厚度组中确定第三匀场片厚度组；

根据单位厚度对应的匀场片重量，计算所述第三匀场片厚度组对应的匀场片总重量；

将最小的匀场片总重量对应的第三匀场片厚度组确定为目标匀场片厚度组。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述匀场片平均磁场强度，将满足预设匀场条件的第二匀场片厚度组确定为目标匀场片厚度组，包括：

根据单位厚度对应的匀场片重量，计算所述第二匀场片厚度组对应的匀场片总重量；

根据所述匀场片总重量和预设总重量上限值，从所述第二匀场片厚度组中确定第四匀场片厚度组；

基于所述第四匀场片厚度组对应的匀场片平均磁场强度，将最小的匀场片平均磁场强度对应的第四匀场片厚度组确定为目标匀场片厚度组。