[发明专利]光谱仪及水质检测装置在审
申请号: | 201811256076.5 | 申请日: | 2018-10-26 |
公开(公告)号: | CN109187428A | 公开(公告)日: | 2019-01-11 |
发明(设计)人: | 王翰林;付秋玥 | 申请(专利权)人: | 广州市怡文环境科技股份有限公司 |
主分类号: | G01N21/39 | 分类号: | G01N21/39 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 刘培培 |
地址: | 510730 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光栅 准直镜 光谱仪 水质检测装置 成像反射镜 阵列探测器 光入射口 光束入射 依次设置 光路 壳体 光谱 生产成本低 光束检测 角度可调 光谱图 准确率 生产成本 体内 检测 | ||
本发明涉及一种光谱仪及一种水质检测装置,上述光谱仪包括:壳体、第一准直镜、第一光栅、第二准直镜、第二光栅、成像反射镜和阵列探测器,所述第一准直镜、所述第一光栅、所述第二准直镜和所述第二光栅分别角度可调地安装在所述壳体内,所述壳体上设有用于第一光束入射的第一光入射口和用于第二光束入射的第二光入射口,所述第一准直镜、所述第一光栅和所述成像反射镜沿所述第一光束的光路依次设置,以使所述第一光束在所述阵列探测器上形成第一光谱;所述第二准直镜、所述第二光栅和所述成像反射镜沿所述第二光束的光路依次设置,以使所述第二光束在所述阵列探测器上形成第二光谱,上述光谱仪可有效将对各路光束检测所形成的各光谱图分离且生产成本低,上述水质检测装置具有较高的检测准确率且生产成本较低。
技术领域
本发明涉及光学设备技术领域,特别是涉及一种光谱仪及一种水质检测装置。
背景技术
目前,光谱仪可分为单通道光谱仪和双通道光谱仪,单通道光谱仪每次只能对单路光束进行检测,如需对双路光束进行检测,则需分开两次进行,这导致单通道光谱仪对每路光束的对比检测容易出现误差,而双通道光谱仪则可克服单通道光谱仪的上述缺陷,但传统的双通道光谱仪对各路光束检测所形成的各光谱图容易发生重合,导致难以准确地对各光谱图进行对比分析,为此,传统的双通道光谱仪需要设置柱面镜将各光谱图相互分离,才能清晰地对各光谱图进行对比分析,但这无疑会导致传统的双通道光谱仪的生产成本较高。
发明内容
基于此,有必要针对传统的双通道光谱仪的生产成本高的技术问题,提供一种光谱仪和一种水质检测装置。上述光谱仪可同时对至少两路光束进行检测,且有效将对各路光束检测所形成的各光谱图分离,从而能清晰地对各光谱图进行对比分析,有效提高测量结果的准确性,且上述光谱仪的生产成本较低;上述水质检测装置具有较高的检测准确率且生产成本较低。
为实现上述目的,本发明提供一种光谱仪,所述的光谱仪包括:壳体、第一准直镜、第一光栅、第二准直镜、第二光栅、成像反射镜和阵列探测器,所述第一准直镜、所述第一光栅、所述第二准直镜和所述第二光栅分别角度可调地安装在所述壳体内,所述壳体上设有用于第一光束入射的第一光入射口和用于第二光束入射的第二光入射口,所述第一准直镜、所述第一光栅和所述成像反射镜沿所述第一光束的光路依次设置,以使所述第一光束在所述阵列探测器上形成第一光谱;所述第二准直镜、所述第二光栅和所述成像反射镜沿所述第二光束的光路依次设置,以使所述第二光束在所述阵列探测器上形成第二光谱。
上述光谱仪与背景技术相比,至少具有以下有益效果:第一光束从第一光入射口进入壳体内,以后依次经过第一准直镜、第一光栅和成像反射镜形成第一光路,最后在阵列探测器上形成第一光谱;第二光束从第二光入射口进入壳体内,以后依次经过第二准直镜、第二光栅和成像反射镜形成第二光路,最后在阵列探测器上形成第二光谱;第一光路和第二光路相互分离,从而使第一光路和第二光路不会发生干涉,同时通过调节第一准直镜、第一光栅、第二准直镜和第二光栅的角度,可实现第一光谱和第二光谱完全分离,以使第一光谱和第二光谱之间没有串扰,从而能清晰地对第一光谱和第二光谱进行对比分析,有效提高测量结果的准确性;再者,上述光谱仪不需使用柱面镜即可将第一光谱和第二光谱分离,有效节省上述光谱仪生产成本。
在其中一实施例中,所述第一准直镜与所述第二准直镜以所述成像反射镜的中垂面为对称中心相互对称布置,所述第一光栅与所述第二光栅以所述成像反射镜的中垂面为对称中心相互对称布置。上述设置更便于通过调节第一准直镜、第一光栅、第二准直镜和第二光栅的角度,使第一光谱和第二光谱完全分离。
在其中一实施例中,所述第一光入射口和所述第二光入射口上分别安装狭缝片。可通过改变狭缝片的缝宽以使所形成的第一光谱和第二光谱的分辨率达到所需要求。
在其中一实施例中,所述阵列探测器上设有用于将所述第一光谱与所述第二光谱分隔的挡光板。上述挡光板避免了第一光谱和第二光谱的串扰与混叠,从而进一步保证能清晰地对第一光谱和第二光谱进行对比分析,进而进一步提高测量结果的准确性。
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