[发明专利]一种半导体存储器老化测试的日志管理系统及方法在审
申请号: | 201811256592.8 | 申请日: | 2018-10-26 |
公开(公告)号: | CN109257230A | 公开(公告)日: | 2019-01-22 |
发明(设计)人: | 艾鹏 | 申请(专利权)人: | 武汉精鸿电子技术有限公司 |
主分类号: | H04L12/24 | 分类号: | H04L12/24 |
代理公司: | 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 | 代理人: | 胡琦旖 |
地址: | 430070 湖北省武汉市洪*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 日志 半导体存储器 日志服务器 老化测试 日志管理 日志文件 客户端 日志管理系统 日志文件存储 控制台 发送 分布式收集 统一处理 运行过程 可扩展 容错性 保存 | ||
本发明属于日志管理技术领域,公开了一种半导体存储器老化测试的日志管理方法及系统,包括日志服务器端和至少一个日志客户端;日志客户端将运行过程中所生成的日志文件存储到本地,通过控制台对日志文件进行显示,将日志文件发送至日志服务器端;日志服务器端接收并保存日志客户端发送来的日志文件。本发明解决了现有技术中半导体存储器老化测试的日志管理分散、容错性较差的问题,为日志的“分布式收集,统一处理”提供了一个可扩展的,高容错的方案。
技术领域
本发明涉及日志管理技术领域,尤其涉及一种半导体存储器老化测试的日志管理系统及方法。
背景技术
半导体存储器(semi-conductor memory)是现代数字系统特别是计算机系统中的重要组成部件,随着半导体存储器的集成度越来越高,半导体器件颗粒的尺寸也越来越小,半导体器件发生故障率也随之增加。半导体存储器件的可靠性决定测试设备能否稳定、可靠地运行。
在实际的运行环境中,偶尔发现半导体测试设备系统的一个模块功能会丧失。类似的问题在本地测试的时候没有出现,但是部署在实际环境中却有可能发生。然而,我们不可能实时地24小时对系统进行人工监控,那么该如何定位功能丧失的原因,如何快速、准确地对bug进行定位分析,进而解决问题呢?系统日志可以很好地解决定位bug的难题。日志对于运行环境中系统的监控和问题定位是至关重要的,在系统设计、开发和实现的过程中必须时刻注意着log的输出,这将会对于日后的系统监控和异常分析起至关重要的作用。然而,现有的日志管理存在日志分散,查找效率低,日志分析难度大、日志管理容错性较差的问题。
发明内容
本申请实施例通过提供一种半导体存储器老化测试的日志管理系统及方法,解决了现有技术中半导体存储器老化测试的日志管理分散、容错性较差的问题。
本申请实施例提供一种半导体存储器老化测试的日志管理方法,应用于包括日志服务器端和至少一个日志客户端的日志管理系统;所述方法包括:
所述日志客户端将运行过程中所生成的日志文件存储到本地,通过控制台对日志文件进行显示,将日志文件发送至所述日志服务器端;
所述日志服务器端接收并保存所述日志客户端发送来的日志文件。
优选的,所述日志客户端预先获取所述日志服务器端的配置信息,并根据所述配置信息获取发送日志文件的目标地址;所述日志客户端通过交换机将日志文件发送至所述目标地址。
优选的,在生成日志文件之前还包括:所述日志客户端根据业务功能设置日志等级;
所述日志服务器端根据所述日志客户端的ID、所述日志等级保存日志文件。
优选的,所述控制台根据所述日志等级对日志文件进行显示。
优选的,所述半导体存储器老化测试的日志管理方法还包括:所述日志服务器端根据所述日志客户端的ID、所述日志等级建立对应的索引,以供根据索引查找日志文件。
优选的,所述日志客户端将日志文件的关键信息发送至所述日志服务器端;
所述日志服务器端接收并保存所述日志客户端发送来的日志文件的关键信息。
优选的,所述半导体存储器老化测试的日志管理方法还包括:所述日志服务器端根据所述日志客户端的ID、所述日志等级、所述关键信息建立对应的索引,以供根据索引查找日志文件。
优选的,在所述日志服务器端崩溃的情况下,所述日志客户端将运行过程中所生成的日志文件存储到本地,并在所述日志服务器恢复的情况下,将日志文件重新发送至所述日志服务器端。
另一方面,本申请实施例提供一种半导体存储器老化测试的日志管理系统,包括日志服务器端和至少一个日志客户端;
所述日志服务器端、所述日志客户端实现上述日志管理方法的步骤。
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