[发明专利]一种检测四量子比特簇对角态完全可分离性的方法在审
| 申请号： | 201811256686.5 | 申请日： | 2018-10-25 |
| 公开（公告）号： | CN109409534A | 公开（公告）日： | 2019-03-01 |
| 发明（设计）人： | 张威;蒋丽珍 | 申请（专利权）人： | 浙江工商大学 |
| 主分类号： | G06N99/00 | 分类号： | G06N99/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 310012 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 可分离 量子 对角 可分离性 种检测 信息论 实验研究 量子态 多体 两体 研究 | ||
【权利要求书】：
1.本发明提出一种检测四量子比特簇对角态完全可分离性的方法，其特征为：根据该检测方法可以检测出哪些量子态是纠缠的，哪些量子态是完全可分离的；共包括以下几个步骤：
S1)求出两个簇态基和白噪声混合的簇对角态表达式的特性函数Rijkl，其中|Cl4>和|Cl′4>是两个簇态基，0≤p≤1，0≤q≤1；
S2)利用纠缠见证者方法求出当量子态为完全可分离状态时所应满足的条件，即通过调整M的取值和求得的特性函数Rijkl的值，找出四量子比特簇对角态满足完全可分离的必要条件；
S3)根据完全可分离量子态的定义，把所求的量子态进行分解，使其分解的各部分都满足完全可分离态定义的形式；验证在此过程中补充的所有多余项是否满足完全可分离态的形式，从而找出四量子比特簇对角态满足完全可分离的充分条件。
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