[发明专利]用于分析测量相同类型的零件的多个测试仪器的性能的方法

说明书

本发明公开了一种用于操作数据处理系统来分析数据集以进行分组的方法和一种具有执行该方法的指令的计算机可读介质。该方法包括使数据处理系统接收多个数据集，每个数据集包括由统计分布和标签表征的多个值。该方法还包括使该数据处理系统为多个数据集中的每一个数据集计算多个统计参数，为多个数据集中的每一个数据集生成具有等于多个统计参数的分量的数据集向量，使用聚类算法基于数据集向量将每个数据集分配给簇，以及生成作为标签的函数的统计分布的显示，其中属于同一簇的统计分布被分组在一起。

背景技术

考虑特定零件的生产线，该特定零件由测量来自该零件的一个或多个信号的仪器进行测试。零件测试可以涉及多个相同类型的测试仪器以加速测试过程。此外，同一零件可能会被多次测试。例如，零件可能在第一次测试中被发现有缺陷，并被送往维修站。然后经修复的零件被再次测试。在理想情况下，针对任何给定的零件，所有测试仪器都会测得相同的值。然而，在现实情况中，任何测试仪器针对多个理论上相同的零件提供的一组测量值会具有一定的统计分布。类似地，即使合格零件之间也会显示出一定的差异。当测试仪器的数量很多时，识别出现故障的测试仪器会面临挑战，特别是在输出值的误差较小的情况下，这些误差因零件而异并因此隐藏在统计噪声中。最后，这些测试仪器在确切型号和仪器投入使用的确切日期上可能会有所差异。因此，面对这些差异，检查生产线面临重大挑战。

发明内容

本发明包括一种用于操作数据处理系统来分析数据集以进行分组的方法和一种具有使数据处理系统执行该方法的指令的计算机可读介质。该方法包括使数据处理系统接收多个数据集，每个数据集包括由统计分布和标签表征的多个值。该方法还包括使该数据处理系统为多个数据集中的每一个数据集计算多个统计参数，为多个数据集中的每一个数据集生成具有等于多个统计参数的分量的数据集向量，使用聚类算法基于数据集向量将每个数据集分配给簇，以及生成作为标签的函数的统计分布的显示，其中属于同一簇的统计分布被分组在一起。

在本发明的一个方面中，该显示包括作为标签的函数与统计参数相关联的符号的图表，该符号位于该标签的数据集的值的中值或平均值处。

在另一个方面中，这些数据集在每个簇内进一步按中值或平均值进行排序。

在另一个方面中，这些数据集各自包括由与多个测试仪器中的一个相关联的第一测试探针测量的第一物理量的多个测量值，每个标签与这些测试仪器中的一个对应。

在另一个方面中，该显示包括作为仪器ID的函数与统计参数相关联的符号的图表，该符号位于由该仪器取得的测量值的中值或平均值处。

在另一个方面中，该符号包括箱线图。

在另一个方面中，这些仪器各自包括第二测试探针并且通过第二测试探针提供第二物理量的测量值，并且其中该数据处理系统生成表征测量值集合的统计分布的多个统计参数，所述测量值集合与所述多个仪器中的每一个仪器和与该仪器相关联的第二测试探针对应，并且仪器向量进一步包括第二多个统计参数。

本发明还包括以下各项：

项1.一种用于操作数据处理系统来分析数据集以进行分组的方法，所述方法包括使所述数据处理系统：

接收多个数据集，每个数据集包括由统计分布表征的多个值；

为所述多个数据集中的每一个数据集计算多个统计参数；

为所述多个数据集中的每一个数据集生成数据集向量，所述数据集向量具有等于所述多个统计参数的分量；

使用聚类算法基于所述数据集向量将每个数据集分配给簇；以及生成所述统计分布的显示，其中属于同一簇的所述统计分布被分组在一起。

项2.项1的方法，其中所述显示包括与所述统计参数相关联的符号的图表，所述符号位于所述数据集值的中值或平均值处。

项3.项1的方法，其中所述数据集在每个簇内进一步按所述中值或所述平均值进行排序。