[发明专利]分析装置以及预热判定方法

说明书

本发明提供一种能以恰当的时间进行预热的分析装置以及预热判定方法。本发明的分光光度计(1)具备控制部(45)。控制部(45)中包含预热判定部(452)。预热判定部(452)根据在不使来自光源部的光在试样透射或反射的状态下利用光检测部(7)对来自光源部的光进行检测时的规定期间内的检测信号的变动量来判定预热的完成。具体而言，预热判定部(452)算出经过了规定期间的时间点上的光检测部(7)的信号强度与上一次的光检测部(7)的信号强度的差，在该值变得不到第1阈值的情况下，判定预热的完成。因此，可以通过预热判定部(452)来自动判定预热完成而无须借助用户的判断。

技术领域

本发明涉及一种具备光源部和光检测部的分析装置以及该分析装置的预热判定方法，所述光源部对试样照射光，所述光检测部对来自被该光源部照射到光的试样的透射光或反射光进行检测。

背景技术

一直以来，业界都在使用对试样照射光而测定来自试样的光并进行分析的分析装置。这种分析装置具备光源部和对来自被光源部照射到光的试样的透射光或反射光进行检测的光检测部，根据来自光检测部的检测信号进行分析(例如参考下述专利文献1)。

在这种分析装置中，作为光源部，例如使用氘灯(D2灯)、钨灯(WI灯)等。在接通装置的电源之后，这些灯在闪烁等稳定之前需要一定程度的时间。因此，在分析装置中，在接通装置的电源之后要进行一定时间的预热(一定时间内成为待机状态)，其后才开始分析动作。

【现有技术文献】

【专利文献】

【专利文献1】日本专利特开2012-32307号公报

发明内容

【发明要解决的问题】

上述以往的分析装置会因预热时间(待机时间)不恰当而发生到分析动作开始为止的时间较长、光源发生所需程度以上的消耗这一不良情况或者测定精度降低这一不良情况。

具体而言，在以往的分析装置中进行预热的情况下，是由用户判断预热时间。因此会发生如下不良情况：即便预热实际上已完成，用户仍判断预热未完成而在其后继续预热，结果导致光源的消耗加剧。此外，会发生如下不良情况：预热尚未完全完成，用户却判断预热完成，从而在光源尚不稳定的状态下开始分析动作，结果导致测定结果的精度降低。

本发明是鉴于上述实情而成，其目的在于提供一种能以恰当的时间进行预热的分析装置以及该分析装置的预热判定方法。

【解决问题的技术手段】

(1)本发明的分析装置具备光源部、光检测部及预热判定部。所述光源部对试样照射光。所述光检测部检测来自被所述光源部照射到光的试样的透射光或反射光。所述预热判定部根据在使来自所述光源部的光不在试样透射或反射的状态下利用所述光检测部对来自所述光源部的光进行检测时的规定期间内的检测信号的变动量，来判定预热的完成。

根据这种构成，由预热判定部根据光检测部的检测信号的变动量来判定预热的完成。

因此，可以通过预热判定部来自动判定预热完成而无须借助用户的判断。并且，若是可以根据由预热判定部判定预热完成这一情况而在分析装置中开始分析动作，则可以使用预热进行了恰当时间的的分析装置来进行分析。

如此，根据本发明的分析装置，能以恰当的时间进行预热。

(2)此外，也可为，所述预热判定部根据所述规定期间内被输入至所述光源部的电压或电流的变动量来判定预热的完成。

根据这种构成，预热判定部除了光检测部的检测信号的变动量以外，还根据被输入至光源部的电压或电流的变动量来判定预热的完成。

因此，能够提高预热判定部对预热完成的判定精度。