[发明专利]一种电机换相器片间短路测试系统及其工作方法

说明书

本发明公开了一种电机换相器片间短路测试系统及其工作方法，涉及电机换相器短路测试领域。传统的短路测试仪体积大、成本高，移动不方便，极大的限制了短路测试仪在换相器行业的应用。本发明包括用于与换相器相连的探针、用于检测探针电压高低的测试装置，测试装置包括主控芯片及主控芯片外围电路，主控芯片外围电路包括测试电路及用于供电的供电电路，探针分为上层探针、下层探针；测试电路包括与上层探针相连的上层探针测试电路、与下层探针相连的下层探针测试电路；测试电路的数量与探针数量相对应以测试每一探针的电压。通过芯片控制的弱电结构，大大缩小了仪器的体积，能够有效地降低检测设备的重量，降低了批量生产的成本，方便携带应用。

技术领域

本发明涉及电机换相器短路测试领域，尤其涉及一种电机换相器片间短路测试系统。

背景技术

换相器是直流电机和交流换相器电机上能让电机持续转动的一个关键部件，因此被广泛应用于电动工具、汽车电机、家用电器和工业电机等领域；近些年来，随着相关行业规模不断壮大，发展趋势越来越好，市场对换相器的需求量日益增大。短路测试是换相器测试项目中至关重要的一种测试，传统的短路测试仪体积大、成本高，移动不方便，极大的限制了短路测试仪在换相器行业的应用。

发明内容

本发明要解决的技术问题和提出的技术任务是对现有技术方案进行完善与改进，提供一种电机换相器片间短路测试系统，以实现测试系统的微型化，方便携带应用为目的。为此，本发明采取以下技术方案。

一种电机换相器片间短路测试系统，包括用于与换相器相连的探针、用于检测探针电压高低的测试装置，所述的测试装置包括主控芯片及主控芯片外围电路，所述的主控芯片外围电路包括测试电路及用于供电的供电电路，所述的探针分为上层探针、下层探针；所述的测试电路包括与上层探针相连的上层探针测试电路、与下层探针相连的下层探针测试电路；测试电路的数量与探针数量相对应以测试每一探针的电压。通过芯片控制的弱电结构，大大缩小了仪器的体积，能够有效地降低检测设备的重量，降低了批量生产的成本，方便携带应用。

作为对上述技术方案的进一步完善和补充，本发明还包括以下附加技术特征。

作为优选技术手段：所述的上层探针测试电路的控制端PX与主控芯片引脚相连，上层探针测试电路的检测端与上测控针相连；上层探针测试电路包括基极与控制端相连的第一三极管、与第一三极管集电极相连的开关管，所述的检测端与开关管相连。实现上层探针的探测和控制。

作为优选技术手段：所述的上层探针测试电路还包括限压电阻R1、保护电阻R2、上拉电阻R3，所述的第一三极管为NPN三极管，第一三极管的基极通过限压电阻R1与控制端相连，第一三极管的集电极通过上拉电阻R3与电源相连。有助于实现对上层探针接触是否良好的探测。

作为优选技术手段：所述的开关管为NMOS管，开关管的栅极与第一三极管的集电极相连，开关管的漏极通过上拉电阻R4与电源相连；所述的控制端与漏极相连，开关管的源极接地。

作为优选技术手段：所述的下层探针测试电路的控制端POUTX与主控芯片引脚相连,所述的下层探针测试电路包括第二三极管、继电器，所述的继电器一端与下层探针相连，继电器的另一端接地，第二三极管的基极与控制端POUTX相连，第二三极管的集电极与继电器线圈相连。实现下层探针的探测和控制。

作为优选技术手段：所述的下层探针测试电路还包括限压电阻R5、保护电阻R6、上拉电阻R7，所述的第二三极管为NPN三极管，第二三极管的基极通过限压电阻R5与控制端POUTX相连，第二三极管的集电极通过上拉电阻R3与电源相连。有助于实现对下层探针接触是否良好的探测。

作为优选技术手段：所述的主控芯片通过扩张板接口与外挂扩展板相连，所述的外挂扩展板上设有所述的下层探针测试电路。便于扩展和维护更换，方便维修，降低了复杂性。