[发明专利]一种微波介质振荡器贮存寿命评估方法

说明书

本发明公开了一种微波介质振荡器贮存寿命评估方法，包括：对微波介质振荡器长期贮存的退化机理、敏感应力及敏感参数进行调研分析，确定微波介质振荡器的长期贮存退化机理、敏感应力及敏感参数。通过对微波介质振荡器退化机理、敏感应力及敏感参数等的分析，设计并实施温度步进应力加速退化试验，并基于退化轨迹建模的评估方法对不同温度应力下的退化数据进行处理，结合阿伦纽斯模型，可以外推得到常温贮存条件下样本的伪失效寿命；对伪失效寿命进行分布类型检验，并结合工程经验确定寿命分布类型及分布参数，最终可以给出微波介质振荡器长期贮存后的可靠度指标。

技术领域

本发明涉及一种介质振荡器贮存寿命评估方法，特别是一种微波介质振荡器贮存寿命评估方法。

背景技术

介质振荡器具有稳定度高、相位噪声低、频谱纯度好等诸多优点，被广泛应用于微波振荡源中。在贮存期内介质振荡器可发生自激震荡信号频率漂移等故障，可直接导致某些组件无法正确接收和发送指令信号，更严重的会导致电子设备失控。因此，精确确定介质振荡器的贮存寿命以便及时进行更换和维修，对电子设备贮存寿命的提高具有关键的作用。

限于器件生产厂家技术原因，微波介质振荡器贮存寿命评估一直是个难题，而其评估方法可以采用恒定应力加速退化试验或步进应力加速退化试验，还可以采用序进应力加速退化试验，但恒定应力加速退化试验时间长，试品数量多，试验费用较高，序进应力加速退化试验对试验设备要求较高，数据处理难度较大，应用极少；而步进应力加速退化试验参试样本较少，试验周期短，节省试验成本。

发明内容

本发明目的在于提供一种微波介质振荡器贮存寿命评估方法，解决传统方法试验时间长，试品数量多，试验费用高，试验数据处理难度大等问题。

一种微波介质振荡器贮存寿命评估方法，包括：对微波介质振荡器长期贮存的退化机理、敏感应力及敏感参数进行调研分析，确定微波介质振荡器的长期贮存退化机理、敏感应力及敏感参数。

优选地，所述微波介质振荡器贮存期内温度是其敏感应力，微波介质振荡器具有温度可加速性。

优选地，所述微波介质振荡器的温度应力退化敏感参数为振荡频率与输出功率。

本发明所述的微波介质振荡器贮存寿命评估方法还包括：通过对已有的加速试验技术研究成果进行考察与分析，对加速退化试验、加速模型及贮存寿命评估方法进行了调研。

优选地，所述温度步进应力加速退化试验中，采用阿伦纽斯模型来描述相应的寿命特征与加速应力之间的关系。

优选地，在加速退化试验前需进行温度特性确认试验。

优选地，进行温度步进应力加速退化试验，包括试验方案的设计与实施。

优选地，还需结合器件规范确定试验样本测试参数的失效判据。

优选地，试验数据的处理与分析包括：加速退化试验数据分析方法与评估模型研究，包括产品性能退化方程的确定、退化数据的回归分析以及寿命分布类型研究。

优选地，试验数据的处理与分析包括：是基于前述数据分析方法与评估模型，并结合相关数据处理软件对某型微波介质振荡器的伪寿命进行分布检验，并结合工程经验确定分布类型，确定分布参数，并给出贮存可靠性评估结果。

综上所述，采用了上述技术方案，本发明试验参试样本较少，试验周期短，节省试验成本，试验数据处理较为简便。

附图说明

图1为本发明的一个实施例的微波介质振荡器贮存寿命评估方法。

具体实施方式

下面结合附图说明根据本发明的具体实施方式。