[发明专利]快速测定痕量轻元素上照式X射线能谱分析仪及分析方法

权利要求书

1.一种快速测定痕量轻元素上照式X射线能谱分析仪，包括机柜(101)、电脑(102)、样品腔室(303)、X射线光管(301)、探测器(302)、样品杯(305)、高压电源(306)、升降平台(201)和真空泵；其特征在于：

所述机柜(101)内部设有一隔板(202)，将机柜(101)分隔为上下两层空间；所述样品腔室(303)固接在隔板(202)的上表面中部，样品腔室(303)的顶部设有X射线光管(301)和探测器(302)，X射线光管(301)发出的X射线从斜上方照射样品上表面，探测器(302)与X射线光管(301)均位于样品上方；

所述X射线光管(301)的出射口设有一级准直器(307)；

所述样品腔室(303)为快抽、慢泄的真空状态；

所述电脑(102)和升降平台(201)布置在机柜(101)的下层空间；

用于装载待测样品(501)的所述样品杯(305)可拆卸地安装在升降平台(201)上，并与样品腔室(303)底部的进样口相对应；样品杯(305)通过升降平台(201)向上升起，由进样口进入样品腔室(303)内的检测位置；

所述电脑(102)分别与升降平台(201)、真空泵的电磁阀、X射线光管(301)和探测器(302)连接；

所述高压电源(306)为X射线光管(301)提供高压电。

2.根据权利要求1所述的快速测定痕量轻元素上照式X射线能谱分析仪，其特征在于：所述X射线光管(301)与探测器(302)具有一定夹角，使得出射X射线与入射X射线的夹角范围为45°～90°。

3.根据权利要求1所述的快速测定痕量轻元素上照式X射线能谱分析仪，其特征在于：所述探测器(302)为硅漂移SDD探测器；所述一级准直器(307)的滤光片的材质为轻薄有机材料；所述一级准直器(307)为内嵌铝的圆孔一级准直器，其圆孔直径5mm；所述真空泵为无油小型涡旋真空泵。

4.根据权利要求1所述的快速测定痕量轻元素上照式X射线能谱分析仪，其特征在于：所述一级准直器(307)上设有滤光片切换装置，根据检测需求更换不同类型的滤光片。

5.根据权利要求1所述的快速测定痕量轻元素上照式X射线能谱分析仪，其特征在于：所述样品腔室(303)底部设有进样口，侧壁设有泄真空口(304)，泄真空口(304)与真空泵连接，用于控制和检测样品腔室(303)的工作状态，并设有通过网口数据线与电脑(102)连接的真空计。

6.根据权利要求1所述的快速测定痕量轻元素上照式X射线能谱分析仪，其特征在于：所述待测样品(501)为表面光洁的块状样品或由粉末样品压制成的片状样品。

7.根据权利要求1所述的快速测定痕量轻元素上照式X射线能谱分析仪，其特征在于：机柜(101)的上层空间的侧壁上设有散热风扇(103)；机柜(101)的下层空间的侧壁上设有操作口(104)。

8.根据权利要求1所述的快速测定痕量轻元素上照式X射线能谱分析仪，其特征在于：所述升降平台(201)的升降路径上设有光电限位开关，用于限制升降平台(201)将样品杯(305)移动至检测位置或装卸位置。

9.根据权利要求1所述的快速测定痕量轻元素上照式X射线能谱分析仪，其特征在于：所述样品杯(305)内设有弹簧，用于将放入样品杯(305)内待测样品(501)向上顶起，使得待测样品(501)的待测表面与样品杯(305)的上边缘齐平。

10.根据权利要求1所述的快速测定痕量轻元素上照式X射线能谱分析仪，其特征在于：所述分析仪适用于固体样品的测定，应用于药物中间体、有机发光材料和煤轻基体材料中的痕量轻元素的准确测定，检出限低至1ppm，测试时间为2～5分钟。