[发明专利]一种高精度姿态变化量测量方法

权利要求书

1.一种高精度姿态变化量测量方法，包括以下步骤：

a)于缓冲基座底板艏艉向和侧向的侧立面安装两个平面反射镜，两镜面法线正交；参考缓冲基座底板，于缓冲基座顶板的相同位置安装两个平面反射镜，两镜面法线正交；

b)将缓冲基座置于可调平平板或千斤顶上，以自准直经纬仪依次照准缓冲基座底部两正交镜面，该自准直经纬仪为第一台自准直经纬仪，根据第一台自准直经纬仪水平示数将缓冲基座置平，测量两镜面法线的水平倾角并记录；

c)将第一台自准直经纬仪架设在缓冲基座首尾向，照准底板的平面反射镜；在能够与第一台经纬仪互瞄，且能够照准底板侧向平面反射镜的位置架设第二台自准直经纬仪，位置确定后于地面设置标识，保证设备定点使用；

d)在距离两台自准直经纬仪五米以外架设第三台自准直经纬仪作为测角基准，第一台和第二台测量用自准直经纬仪依次与第三台自准直经纬仪互瞄，完成坐标系取齐；互瞄过程中第三台自准直经纬仪作为焦距基准，测量过程中焦距不得调整；自准直经纬仪互瞄时首先以望远镜状态对准目标经纬仪内觇标，确保光路轴线对准；

e)第一台和第二台自准直经纬仪分别测量各自方向上的底板平面反射镜、顶板平面反射镜，由于顶板、底板的平面反射镜存在高度差，第一台自准直经纬仪和第二台自准直经纬仪均需重新架设，架设后必须同第三台自准直经纬仪互瞄，完成坐标系取齐和焦距取齐；

f)自准直经纬仪互瞄后，第一台和第二台自准直经纬仪照准镜面时均正、倒向读两次数据后求均值，消除仪器误差；

g)测量过程中，根据设备底部两正交镜面的测量值是否与初始测量值吻合检查测量重复精度。

2.根据权利要求1所述的一种高精度姿态变化量测量方法，其特征在于：步骤a)中，缓冲基座底板所安装的两个平面反射镜的两镜面法线正交误差小于10″；缓冲基座顶板所安装的两个平面反射镜的两镜面法线正交误差小于10″。